技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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本セミナーでは、目視検査と自動検査装置による検査、その実践的かつ科学的な、品質保証のための方法とポイントについて解説いたします。
製品のキズや異物など“外観品質保証”の問題は、産業における共通の、難度が高い重要課題である。
外観検査が行われるが、試行錯誤や間違った理解から効果がえらない状況が散見される。
書籍「外観品質保証」の著者が、体系的に外観検査正しい外観検査の理解と方法を解説する。
| 開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
|---|---|---|---|
| 2026/9/24 | 電子部品・材料の故障解析技術 | オンライン | |
| 2026/9/28 | FMEA・FTAの考え方、実施手順と事例 | オンライン | |
| 2026/9/29 | 検査員の意識改革と検査業務改善の進め方 | 東京都 | 会場・オンライン |
| 2026/9/29 | 積層セラミックコンデンサの故障メカニズム、解析事例と品質向上 | オンライン | |
| 2026/10/2 | トヨタに学ぶ変化点管理とDRBFMの実践 | オンライン | |
| 2026/10/2 | 品質管理の基礎 (4日間) | オンライン | |
| 2026/10/2 | 品質管理の基礎 (1) | オンライン | |
| 2026/10/6 | 少ないデータでも使える機械学習・異常検知の基礎とインフラ・製造分野への応用 | オンライン | |
| 2026/10/7 | FMEA・FTAの考え方、実施手順と事例 | オンライン | |
| 2026/10/7 | 試験部門 (QC) におけるデータの電子化とインテグリティ対策 | オンライン | |
| 2026/10/7 | 少ないデータでも使える機械学習・異常検知の基礎とインフラ・製造分野への応用 | オンライン | |
| 2026/10/8 | ICH (Q1) をふまえた開発段階の安定性試験、リテスト期間/有効期間の予測方法と統計学的解析による設定方法 | オンライン | |
| 2026/10/8 | 積層セラミックコンデンサの故障メカニズム、解析事例と品質向上 | オンライン | |
| 2026/10/8 | 異物ゼロへの実践メソッド | 東京都 | 会場・オンライン |
| 2026/10/8 | 生成AIを活用した製造業におけるヒューマンエラー・ポカミスの要因分析・未然防止 | オンライン | |
| 2026/10/9 | 生成AIを活用した製造業におけるヒューマンエラー・ポカミスの要因分析・未然防止 | オンライン | |
| 2026/10/14 | 研究開発・ものづくりに必要な安全教育と対策 | オンライン | |
| 2026/10/15 | 品質保証のためのデザインレビューの効率的・有効な進め方 | 東京都 | 会場・オンライン |
| 2026/10/15 | 業務手順書、作業手順書の作成・運用によるノウハウの継承 | オンライン | |
| 2026/10/19 | 品質管理の基礎 (2) | オンライン |
| 発行年月 | |
|---|---|
| 2025/5/30 | AI、シミュレーションを用いた劣化・破壊評価と寿命予測 |
| 2025/3/31 | 生成AIによる業務効率化と活用事例集 |
| 2023/6/30 | 生産プロセスにおけるIoT、ローカル5Gの活用 |
| 2023/6/30 | 加速試験の実施とモデルを活用した製品寿命予測 |
| 2022/12/31 | 機械学習・ディープラーニングによる "異常検知" 技術と活用事例集 |
| 2022/11/14 | 外観検査技術 (CD-ROM版) |
| 2022/11/14 | 外観検査技術 |
| 2022/1/12 | 製造DX推進のための外観検査自動化ガイドブック |
| 2021/10/18 | 医療機器の設計・開発時のサンプルサイズ設定と設定根拠 |
| 2020/11/6 | QC工程表・作業手順書の作り方 |
| 2019/8/30 | ヒューマンエラーの発生要因と削減・再発防止策 |
| 2015/10/22 | FMEA・DRBFMの基礎と効果的実践手法 |
| 2013/6/3 | プラスチックのタフニングと強度設計 |
| 2013/1/31 | ヒューマンエラー対策 事例集 |
| 2006/3/10 | 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析 |
| 1998/6/15 | 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術 |
| 1993/4/1 | はんだ接続の高信頼性化技術とその評価 |
| 1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |
| 1988/2/1 | 半導体の故障モードと加速試験 |
| 1987/8/1 | 機構部品の故障現象と加速試験 |