技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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本セミナーでは、TOF-SIMSの原理から測定、解析について解説し、また、様々な分野への適用事例について紹介いたします。
飛行時間型二次イオン質量分析 (TOF-SIMS) は表面感度の高い表面分析手法であり、元素情報のみならず有機物の化学構造に関する情報が豊富に得られることから、その適用範囲は広い。また、近年は最表面の分析のみならず、深さ方向分析の機能も充実してきた。
今回は、TOF-SIMSの原理から測定、解析について解説し、様々な分野への適用事例について紹介する。
開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
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発行年月 | |
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2022/11/29 | 半導体製造プロセスを支える洗浄・クリーン化・汚染制御技術 |
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2022/8/31 | ポリイミドの高機能設計と応用技術 |
2022/6/17 | 2022年版 電子部品市場・技術の実態と将来展望 |
2022/6/13 | パワー半導体〔2022年版〕 (CD-ROM版) |
2022/6/13 | パワー半導体〔2022年版〕 |
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2022/5/30 | 世界のバイオプラスチック・微生物ポリマー 最新業界レポート |
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2021/11/12 | レジスト材料の基礎とプロセス最適化 |
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2021/7/28 | プラスチックリサイクル |
2021/6/29 | UV硬化樹脂の開発動向と応用展開 |
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