第1章 信頼性評価技術の課題

• 1 市場背景
• 2 複合加速試験のねらい

第2章 信頼性評価の概要

• 1 用語
• 2 分類
• 演習問題 1

第3章 スイッチング電源の概要

• 1 歴史
• 2 機能
• 3 分類
• 4 用途
• 5 動作原理

第4章 信頼性の解析

• 1 使われ方
• 2 環境ストレスとその影響
• 3 故障モード

第5章 信頼性理論

• 1 アレニウスの式
• 2 アレニウスモデル式
• 3 アイリングの式
• 4 アイリングモデル式
• 5 Conffin-Mansonの実験式

第6章 加速係数算出

• 1 寿命一般式
• 2 温度加速係数
  • 2.1 トランス
  • 2.2 電解コンデンサ
  • 2.3 k度則モデルについて
  • 2.4 半導体
• 3 湿度加速係数
• 4 熱衝撃加速係数
• 5 複合加速係数

第7章 複合加速試験

• 1 共通的複合ストレス
• 2 試験法と試験条件
• 3 設計寿命と個別試験計画
• 4 故障解析
• 5 複合加速試験と実験計画法の組合せ

第8章 複合加速試験設備

• 1 単一設備の組み合わせ
• 2 複合加速自動試験システム装置
  • 2.1 通電・計測システム
  • 2.2 チャンバー・振動システム
• 演習問題 2
• 付録 各種の絶縁材料と電解コンデンサの活性化エネルギー
• 引用文献 (第1章～第8章)

第9章 樹脂注型絶縁の課電寿命特性 (V-t特性)

• 1 V-t特性の表し方
• 2 試料の造り型
• 3 絶縁破壊電圧と接着界面距離
• 4 絶縁破壊電圧 (BDV) の温度効果
• 5 V-t特性の逆n乗則近似
• 6 界面絶縁距離の設計基準と設計法
  • 6.1 50Hz,20年相当のノリル/エポキシ界面絶縁距離設計基準
  • 6.2 直流印加電圧に対するノリル/エポキシ界面絶縁距離設計基準
  • 6.3 高周波 (50kHz) ,20年相当のノリル/エポキシ界面絶縁距離設計基準
  • 6.4 非対称波形の印加電圧
    (DC+ACの印加電圧の場合を含む) におけるノリル/エポキシ界面絶縁距離設計基準の使い方
  • 6.5 50Hz,20年相当の基板/エポキシ界面絶縁距離設計基準
  • 6.6 直流印加電圧に対する基板/エポキシ界面絶縁距離設計基準
  • 6.7 高周波 (50kHz) ,20年相当の基板/エポキシ界面絶縁距離設計基準
  • 6.8 非対称波形の印加電圧 (DC+ACの印加電圧の場合を含む) における
    基板/エポキシ界面絶縁距離設計基準の使い方
• 7 高圧トランス設計への応用
• 8 V-t特性における電圧加速係数
• 演習問題 3
• 引用文献 (第9章)

第10章 マグネットワイヤーのコロナ開始電圧と課電寿命特性 (V-t特性)

• 1 絶縁物表面のコロナ開始電圧
• 2 マグネットワイヤーのコロナ開始電圧の実験検証
• 3 マグネットワイヤーの課電寿命特性 (V-t特性)
  • 3.1 ポリウレタン銅線とポリアミドイミド平角銅線のV-t特性
  • 3.2 多層絶縁銅線のV-t特性
• 演習問題 4
• 引用文献 (第10章)

第11章 プリント基板の空間距離と沿面距離

• 1 IEC664の概要と用語
• 2 IEC664-1による最小空間・沿面距離寸法の求め方
  • 2.1 機能絶縁の最小空間距離寸法
  • 2.2 基礎絶縁及び保護絶縁の最小空間距離寸法
  • 2.3 強化絶縁の最小空間距離寸法
  • 2.4 機能絶縁の最小沿面距離寸法
  • 2.5 基礎絶縁及び保護絶縁の最小沿面距離寸法
  • 2.6 強化絶縁の最小沿面距離寸法
• 3 プリント基板の銅箔間距離の設計事例
• 4 信頼性について
• 演習問題 5
• 引用文献 (第11章)
• 演習問題の解答