第1章 磁性の基礎

• 1 概説磁気の単位系
  • 1.1 SI単位系
  • 1.2 cgs単位系の特徴
• 2 磁性概説
  • 2.1 物質の磁性
  • 2.2 磁性体の種類
  • 2.3 磁性薄膜の特徴
• 3 磁性体の磁化
  • 3.1 磁化の発現機構
  • 3.2 磁化の温度・磁場依存性
  • 3.3 金属・合金の磁化
  • 3.4 酸化物・化合物の磁化
• 4 磁気異方性と磁歪
  • 4.1 磁気異方性とその発現機構
  • 4.2 磁歪とその発現機構
• 5 磁気構造
  • 5.1 磁壁
  • 5.2 磁区
• 6 磁化過程
  • 6.1 磁壁移動過程と回転磁化過程
  • 6.2 磁気ヒステリシス環線
• 7 電流磁気効果
  • 7.1 電流抵抗
  • 7.2 電流磁気効果
  • 7.3 ホール効果
  • 7.4 磁気抵抗効果

第2章 磁気異方性の測定法

• 1 緒言
• 2 磁気曲線による磁気異方性の測定法
• 3 トルク曲線による磁気異方性の測定法
  • 3.1 測定原理
  • 3.2 磁気異方性の求め方
  • 3.3 薄膜への適用例
• 4 強磁性共鳴による磁気異方性の測定法
  • 4.1 磁性共鳴の理論
  • 4.2 磁気異方性がある場合の共鳴式
  • 4.3 薄膜への適用例
  • 4.4 人工格子膜への適用例

第3章 磁歪の測定法

• 1 概説
• 2 立法晶および六方晶での磁歪
  • 2.1 単結晶での磁歪
  • 2.2 多結晶および非晶質での磁歪
• 3 光学的計測法
  • 3.1 計測原理と測定法
  • 3.2 各種薄膜への適用例
• 4 その他の計測法

第4章 磁区観察法

第1節 磁区観察法-1

• 1 ビッター法
  • 1.1 試料の表面処理
  • 1.2 強磁性コロイド
  • 1.3 磁区図形観察法
• 2 磁気光学的方法
  • 2.1 システムの概要
  • 2.2 画像処理法
  • 2.3 磁区画像
• 3 ローレンツ顕微鏡法
  • 3.1 デフォーカス法
  • 3.2 スリット法

第2節 磁区観察法-2～スピン偏極走査電子顕微法

• 1 概説
• 2 磁区観察の原理と装置の構造
• 3 特長
• 4 画像取得時間の短縮
• 5 応用例
  • 5.1 磁気ディスクの記録状態
  • 5.2 磁気多層膜の端面観察
• 6 まとめ

第5章 ソフト磁性膜の磁気測定法

• 1 直流磁化曲線の測定法
  • 1.1 誘導法
  • 1.2 積分方法
  • 1.3 薄膜測定の問題点
• 2 高周波透磁率の測定法
  • 2.1 複素透磁率
  • 2.2 測定の実際
• 3 高周波損失の測定法
  • 3.1 損失の表現法
  • 3.2 小振幅励磁の損失測定
  • 3.3 大振幅励磁の損失測定

第6章 記録用磁性薄膜の測定法

• 1 はじめに
• 2 薄膜構造の測定法
• 3 垂直磁化膜の磁気測定法
  • 3.1 磁化測定
  • 3.2 垂直磁気異方性エネルギーの測定法
• 4 光磁気記録用薄膜の磁気光学効果測定法
  • 4.1 磁気光学効果とは
  • 4.2 磁気光学カー効果 (またはファラデー効果) の測定法
• 5 人工格子の構造評価と巨視的な磁気測定
• 6 表面磁性の評価と表面磁気光学効果 (SMOKE)
• 7 まとめ

第7章 薄膜のミクロ磁気測定法

• 1 緒言
• 2 核磁気共鳴吸収 (NMR)
  • 2.1 NMRの原理
  • 2.2 NMRのデータ解析
  • 2.3 スピンエコー法
  • 2.4 薄膜への適用例
• 3 メスバウアー分光法
  • 3.1 原理
  • 3.2 内部転換電子メスバウアー分光法
  • 3.3 メスバウアースペクトルから得られる情報
  • 3.4 メスバウアー効果の観測できる原子核
  • 3.5 測定装置と測定法
  • 3.6 薄膜への適用
• 4 スピン偏極光電子分光
  • 4.1 測定の原理
  • 4.2 電子のスピン偏極度の測定
  • 4.3 スピン偏極逆電子分光法
  • 4.4 スピン偏極電子線エネルギー損失分光

第8章 薄膜の基本特性の測定法

• 1 薄膜の摩擦・摩耗特性の測定法
  • 1.1 摩擦特性
  • 1.2 薄膜の磨耗特性
• 2 薄膜の膜厚測定法
• 3 薄膜の機械的特性評価法
  • 3.1 薄膜の機械的特性
  • 3.2 薄膜の機械的性質の測定法
  • 3.3 装置構造および測定原理
  • 3.4 測定例
  • 3.5 高速引掻試験機の構造
  • 3.6 薄膜の疲労試験機の構造