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プラスチック成形品、フィルムにおける残留応力・歪み発生メカニズムとアニール処理による対策

プラスチック成形品、フィルムにおける残留応力・歪み発生メカニズムとアニール処理による対策

~残留応力発生の要因 / 厚み、形状、素材の分子構造、張力、温度、滞留時間の調整テクニック / アニール処理で除去できない歪みと対策 / アニール処理の不具合と対策、陥りやすい失敗例~
オンライン 開催

概要

本セミナーでは、プラスチックの粘弾性について基礎から解説し、粘弾性挙動の解釈法とその利用法、粘弾性挙動に伴う残留応力の発生機構と低減化法について、事例を交えて解説いたします。

開催日

  • 2026年4月22日(水) 10時15分16時45分

受講対象者

  • 高分子材料の成形で課題を抱えている担当者
  • 高分子材料を用いた製品の設計担当者
  • 高分子材料を用いた製品の品質保証担当者
  • 高分子材料に関連する技術者・開発者・研究者、品質担当者

修得知識

  • 残留応力発生の要因
  • 厚み、形状、素材の分子構造、張力、温度、滞留時間の調整テクニック
  • アニール処理で除去できない歪みと対策
  • アニール処理の不具合と対策、陥りやすい失敗例

プログラム

第1部 アニール処理による高分子の高次構造変化 – そのメカニズムと解析

(2026年4月22日 10:15〜11:45)

 アニール処理は応力緩和特性を利用して残留ひずみを低減する方法として重要である。高分子固体に関する基礎的な事項を簡単に復習したのちに、アニール効果の原因である高分子の緩和現象について解説する。さらに、高分子の低温結晶の事例を紹介する。

  1. はじめに
    1. アニールの目的
    2. 高分子の高次構造
    3. 高分子の熱的性質
  2. ガラス転移とエンタルピー緩和
    1. ガラス状態とガラス転移
    2. エンタルピー緩和
    3. ガラス状態のダイナミクス
    4. アニール処理方法
  3. 低温結晶化
    1. 結晶化挙動の温度依存性
    2. 低温結晶化
    • 質疑応答

第2部 射出成形及び押出成形における残留ひずみ/残留応力の発生原理・対策とアニール処理

(2026年4月22日 12:45〜14:30)

 プラスチックにおける残留ひずみ/残留応力発生原理は成形法によらず同じであるが、射出成形と押出成形では成形プロセスの違いによって発生機構は異なる。残留ひずみによる製品不具合にはクラック、そりや後寸法変化、光学ひずみなどがある。両成形法について、残留ひずみの発生機構と品質トラブル・対策およびアニール処理について解説する。

  1. 樹脂特性と残留ひずみ発生原理
    1. 粘弾性と応力緩和
    2. 圧力・比容積・温度特性
    3. 残留ひずみ発生原理
  2. 射出成形と残留ひずみ
    1. 射出成形法と残留ひずみの種類
    2. 発生機構と品質トラブル・対策
      1. 分子配向ひずみ
      2. 冷却ひずみ
      3. 金具インサートひずみ
  3. 押出成形と残留ひずみ
    1. 押出成形法と残留ひずみの種類
    2. 発生機構と品質トラブル・対策
      1. 配向ひずみ
      2. 冷却ひずみ
      3. 二次加工による熱ひずみ
  4. アニール処理
    1. アニール処理による残留応力低減原理
    2. アニール処理の温度、時間
    3. 射出成形品のアニール処理
    4. 押出成形品のアニール処理
    5. アニール処理の留意点
    • 質疑応答

第3部 樹脂・フィルムへのアニール処理のための生産ラインの検討

(2026年4月22日 14:45〜15:35)

  1. はじめに
    • 普段の生産ラインから
  2. アニール処理による残留応力低減
    1. 熱風加熱
    2. 遠赤外線加熱
    3. 中赤外線加熱
  3. アニール処理方法
    1. 処理条件の確定
    2. 最適な生産ライン
    3. バッチ式
    4. コンベア式
    5. ターンテーブル式
  4. まとめ
    • 質疑応答

第4部 アニール処理による樹脂・フィルムの面歪み、および透視歪みの計測・解析技術について

(2026年4月22日 15:45〜16:45)

 樹脂・フィルムの微小な表面歪みや透視歪みを、複数の縞パターンを投影して、そのゆがみを解析することによって高感度に定量化する技術を紹介します。従来、官能検査に頼っていたヒケ、ウェルドラインによる歪みの計測可視化を評価します。事例からアニール前後の変化に対する評価の可能性を提示します。

  1. SurfTRiDY測定の光学系と測定状況
  2. SurfTRiDY測定の原理
  3. SurfTRiDY測定によって得られる結果
  4. SurfTRiDYによる面ひずみ分布測定例
  5. SurfTRiDYの用途・特徴
  6. 樹脂・フィルムへの適用例、アニール処理の評価
  7. SurfTRiDY高解像度対応
  8. 透視歪測定装置PersTRiDYへの応用
  9. その他開発事例
  10. まとめ
    • 質疑応答

講師

  • 黒田 真一
    群馬大学
    名誉教授
  • 本間 精一
    本間技術士事務所
    所長
  • 瀧本 典昭
    株式会社エコム 営業部
    部長, 取締役
  • 園部 治
    JFEテクノリサーチ株式会社 計測・可視化技術センター
    センター長

主催

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お問い合わせ

本セミナーに関するお問い合わせは tech-seminar.jpのお問い合わせからお願いいたします。
(主催者への直接のお問い合わせはご遠慮くださいませ。)

受講料

1名様
: 60,000円 (税別) / 66,000円 (税込)
複数名
: 55,000円 (税別) / 60,500円 (税込)

複数名同時受講割引について

  • 2名様以上でお申込みの場合、1名あたり 55,000円(税別) / 60,500円(税込) で受講いただけます。
  • 5名様以降は、1名あたり 30,000円(税別) / 33,000円(税込) で受講いただけます。
    • 1名様でお申し込みの場合 : 1名で 60,000円(税別) / 66,000円(税込)
    • 2名様でお申し込みの場合 : 2名で 110,000円(税別) / 121,000円(税込)
    • 3名様でお申し込みの場合 : 3名で 165,000円(税別) / 181,500円(税込)
    • 4名様でお申し込みの場合 : 4名で 220,000円(税別) / 242,000円(税込)
    • 5名様でお申し込みの場合 : 5名で 250,000円(税別) / 275,000円(税込)
  • 同一法人内による複数名同時申込みのみ適用いたします。
  • 請求書は、代表者にご送付いたします。
  • 他の割引は併用できません。

アカデミック割引

  • 1名様あたり 30,000円(税別) / 33,000円(税込)

日本国内に所在しており、以下に該当する方は、アカデミック割引が適用いただけます。

  • 学校教育法にて規定された国、地方公共団体、および学校法人格を有する大学、大学院、短期大学、附属病院、高等専門学校および各種学校の教員、生徒
  • 病院などの医療機関・医療関連機関に勤務する医療従事者
  • 文部科学省、経済産業省が設置した独立行政法人に勤務する研究者。理化学研究所、産業技術総合研究所など
  • 公設試験研究機関。地方公共団体に置かれる試験所、研究センター、技術センターなどの機関で、試験研究および企業支援に関する業務に従事する方
  • 支払名義が企業の場合は対象外とさせていただきます。
  • 企業に属し、大学、公的機関に派遣または出向されている方は対象外とさせていただきます。

ライブ配信セミナーについて

  • 本セミナーは「Zoom」を使ったライブ配信セミナーとなります。
  • お申し込み前に、 Zoomのシステム要件テストミーティングへの参加手順 をご確認いただき、 テストミーティング にて動作確認をお願いいたします。
  • 開催日前に、接続先URL、ミーティングID​、パスワードを別途ご連絡いたします。
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  • セミナー資料は郵送にて前日までにお送りいたします。
  • 開催まで4営業日を過ぎたお申込みの場合、セミナー資料の到着が、開講日に間に合わない可能性がありますこと、ご了承下さい。
    ライブ配信の画面上でスライド資料は表示されますので、セミナー視聴には差し支えございません。
    印刷物は後日お手元に届くことになります。
  • ご自宅への書類送付を希望の方は、通信欄にご住所・宛先などをご記入ください。
  • タブレットやスマートフォンでも受講可能ですが、機能が制限される場合があります。
  • ご視聴は、お申込み者様ご自身での視聴のみに限らせていただきます。不特定多数でご覧いただくことはご遠慮下さい。
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