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「半導体テスト技術の基礎と動向」の関連セミナー・出版物

これから開催される関連セミナー

開始日時 会場 開催方法
2026/5/22 電子部品・機構部品の主要な故障100超のモード・メカニズムとその対策技術 東京都 会場・オンライン
2026/5/22 ナノインプリントリソグラフィの材料・プロセス技術と半導体回路形成への応用 オンライン
2026/5/22 DXとGXを支える次世代半導体実装用樹脂・基板材料の開発と技術動向 オンライン
2026/5/22 2nm以降半導体向け配線技術の最新動向と課題 オンライン
2026/5/22 AIエージェントの基礎と業務導入のポイント オンライン
2026/5/25 信頼性物理に基づく信頼性試験技術とワイブル解析 オンライン
2026/5/26 信頼性物理に基づく信頼性試験技術とワイブル解析 オンライン
2026/5/26 パワー半導体の先進パッケージに求められる高耐熱・信頼性実装材料・接合技術と新規材料・実装構造の開発、信頼性評価技術 オンライン
2026/5/27 先進半導体パッケージの最新動向を読み解くための三次元集積化技術 オンライン
2026/5/28 半導体製造におけるシリコンウェーハのクリーン化技術・洗浄技術 オンライン
2026/5/28 光電融合技術へ向けた異種材料集積化と光集積回路の開発 オンライン
2026/5/29 半導体ドライプロセス入門 オンライン
2026/5/29 外観検査の実務とポイント オンライン
2026/5/29 導入品 (アカデミアへの委託試験も含む) の信頼性基準対応と信頼性基準試験の生データの取扱い オンライン
2026/6/2 ナノインプリントリソグラフィの材料・プロセス技術と半導体回路形成への応用 オンライン
2026/6/3 半導体パッケージングの基礎、各製造プロセス技術 オンライン
2026/6/5 半導体製造工程における洗浄・クリーン化技術と汚染制御対策 オンライン
2026/6/8 半導体プラズマにおける診断・モニタリングと制御技術 オンライン
2026/6/8 AI半導体に求められる要求特性と国内外の開発状況 オンライン
2026/6/9 外観目視検査の正しい進め方と精度向上すり抜け防止の具体的手法 東京都 会場・オンライン
2026/6/12 半導体パッケージングの基礎、各製造プロセス技術 オンライン
2026/6/16 金属材料の疲労破壊メカニズムと疲労設計 オンライン
2026/6/17 半導体プラズマにおける診断・モニタリングと制御技術 オンライン
2026/6/17 AI半導体に求められる要求特性と国内外の開発状況 オンライン
2026/6/18 グローバル製品開発の問題と対策 オンライン
2026/6/19 使用環境・製造条件の悪影響を受けないロバストな設計条件を見極める品質工学 オンライン
2026/6/24 トラブル潰しのためのFMEAとデザインレビューの賢い使い方 オンライン
2026/6/30 不良ゼロへのアプローチ オンライン
2026/7/13 品質管理の基礎 (4日間) オンライン
2026/7/13 品質管理の基礎 (1) オンライン
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