技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
| 開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
|---|---|---|---|
| 2026/7/28 | 品質管理の基礎 (2) | オンライン | |
| 2026/7/29 | 先端メモリ・ロジックデバイスのための2.5D/3Dデバイス集積化技術の基礎から最新動向 | オンライン | |
| 2026/7/30 | 不良ゼロへのアプローチ | 東京都 | 会場・オンライン |
| 2026/7/30 | 半導体ドライプロセス入門 | オンライン | |
| 2026/7/30 | ワイブル解析の基礎と結果の解釈および実務上の注意点 | オンライン | |
| 2026/7/30 | 産業現場のAI機械学習による異常検知予知の実例集 | オンライン | |
| 2026/7/30 | データセンター向け半導体封止材の設計と評価 | オンライン | |
| 2026/7/31 | 製造現場における正常/異常判定の考え方とデータ解析結果の使いこなし方 | オンライン | |
| 2026/7/31 | データセンター向け半導体封止材の設計と評価 | オンライン | |
| 2026/8/3 | 次世代パワーデバイスの開発と市場動向 | オンライン | |
| 2026/8/6 | 半導体製造におけるシリコンウェーハのクリーン化技術・洗浄技術 | オンライン | |
| 2026/8/14 | 品質管理の基礎 (4) | オンライン | |
| 2026/8/17 | 次世代パワーデバイスの開発と市場動向 | オンライン | |
| 2026/8/17 | AI技術を活用した効率的かつ効果的な品質管理方法のアプローチ | オンライン | |
| 2026/8/24 | 品質管理の基礎 (3) | オンライン | |
| 2026/8/26 | AI活用による機能性評価プログラム | オンライン | |
| 2026/9/17 | 高分子材料の劣化メカニズムと解析、寿命評価と対策事例 | 東京都 | 会場 |
| 2026/11/25 | AI活用による機能性評価プログラム | オンライン | |
| 2026/12/18 | 市場クレームとその影響、対応コストを考慮した損失関数による安全係数・検査基準・規格値の決定法 | オンライン | |
| 2027/1/12 | 信頼性の基礎 (2日間) | オンライン | |
| 2027/1/12 | 信頼性の基礎 (1) | オンライン | |
| 2027/1/13 | 信頼性の基礎 (2) | オンライン | |
| 2027/2/9 | 抜取検査 | オンライン | |
| 2027/2/24 | AI活用による機能性評価プログラム | オンライン |
| 発行年月 | |
|---|---|
| 1998/6/15 | 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術 |
| 1997/11/1 | 回路部品の故障モードと加速試験 |
| 1993/4/1 | はんだ接続の高信頼性化技術とその評価 |
| 1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |
| 1990/6/1 | LSI周辺金属材料・技術 |
| 1988/10/1 | 高密度表面実装 (SMT) におけるLSIパッケージング技術 |
| 1988/2/1 | 半導体の故障モードと加速試験 |
| 1987/8/1 | 機構部品の故障現象と加速試験 |
| 1986/12/1 | 耐ノイズ機器実装設計技術 |
| 1985/12/1 | アナログIC/LSIパターン設計 (Ⅰ) |
| 1985/11/1 | アナログIC/LSIパターン設計 (Ⅱ) |
| 1985/10/1 | 電子部品・電子装置の環境信頼性試験 |