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「外注先の品質指導・育成と不良品防止のための仕組み作り」の関連セミナー・出版物

これから開催される関連セミナー

開始日時 会場 開催方法
2026/9/4 人間重視型リーダーシップ & 部下指導・人間力醸成法 東京都 会場・オンライン
2026/9/8 実効性に拘ったGMP教育訓練のポイント オンライン
2026/9/8 ヒューマンエラー・逸脱・GMP違反を防ぐSOP・製造指図記録書の作成と記録ミスを削減させるための工夫 オンライン
2026/9/8 外観目視検査員教育法と見逃し・バラツキ低減技術 オンライン
2026/9/9 GMPにおける原料資材・設備変更の影響評価と変更管理 オンライン
2026/9/9 外観目視検査員教育法と見逃し・バラツキ低減技術 オンライン
2026/9/10 電子機器の故障メカニズムの実態理解と未然防止・故障解析の実務 オンライン
2026/9/10 産業現場での事故防止・安全文化醸成に向けたノンテクニカルスキル教育の訓練法 オンライン
2026/9/11 変更管理・逸脱管理と連携した供給者管理の実践 オンライン
2026/9/11 AI時代のナレッジマネジメント オンライン
2026/9/11 製造条件・使用環境の変動に耐えうる最適設計仕様を導く非線形ロバストデザイン オンライン
2026/9/14 外観検査の自動化技術とシステムの構築 オンライン
2026/9/14 品質管理の基礎 (4日間) オンライン
2026/9/15 ヒューマンエラーの発生要因とその防止のための組織における対策 オンライン
2026/9/15 製品設計段階で必要になる信頼性保証のための加速試験 オンライン
2026/9/15 実践例20選から学ぶ産業現場AI異常検知の方式選定法 オンライン
2026/9/15 生成AI・AIを活用した暗黙知の言語化と技術・技能伝承への応用 オンライン
2026/9/16 製品設計段階で必要になる信頼性保証のための加速試験 オンライン
2026/9/16 積層セラミックコンデンサ (MLCC) の故障解析・絶縁劣化評価と信頼性確保 オンライン
2026/9/16 画像認識技術を用いたAI外観検査の現場導入事例と精度向上技術 オンライン
2026/9/17 ヒューマンエラーの発生要因とその防止のための組織における対策 オンライン
2026/9/18 ICH (Q1) をふまえた開発段階の安定性試験、リテスト期間/有効期間の予測方法と統計学的解析による設定方法 オンライン
2026/9/18 心理的安全性を高める職場づくりと問題行動への実践的対応 オンライン
2026/9/24 電子部品・材料の故障解析技術 オンライン
2026/9/25 半導体・回路素子における劣化寿命の故障モード・構造因子とその予測法 東京都 会場・オンライン
2026/9/25 モノづくり現場の改善力を磨く オンライン
2026/9/28 モノづくり現場の改善力を磨く オンライン
2026/9/28 FMEA・FTAの考え方、実施手順と事例 オンライン
2026/9/28 ISO10012改定を踏まえた測定結果のトレーサビリティと計測リスク管理の実務 オンライン
2026/9/29 検査員の意識改革と検査業務改善の進め方 東京都 会場・オンライン
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関連する出版物

発行年月
2025/5/30 AI、シミュレーションを用いた劣化・破壊評価と寿命予測
2023/11/30 当局査察に対応した試験検査室管理実務ノウハウ
2023/6/30 加速試験の実施とモデルを活用した製品寿命予測
2022/3/31 研究開発部門の新しい "働き方改革" の進め方
2022/1/12 製造DX推進のための外観検査自動化ガイドブック
2021/10/18 医療機器の設計・開発時のサンプルサイズ設定と設定根拠
2021/8/31 研究開発の "見える化" によるR&Dテーマ評価、進捗管理と進め方
2020/11/6 QC工程表・作業手順書の作り方
2019/8/30 ヒューマンエラーの発生要因と削減・再発防止策
2015/10/22 FMEA・DRBFMの基礎と効果的実践手法
2013/6/3 プラスチックのタフニングと強度設計
2013/1/31 ヒューマンエラー対策 事例集
2012/2/9 厚生労働省「コンピュータ化システム適正管理GL」対応のための「回顧的バリデーション」および「リスクアセスメント」実施方法
2011/1/25 供給者監査実施のノウハウと注意点
2008/10/23 実践ベンダーオーディット実施の手引き
2006/3/10 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析
1998/6/15 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術
1993/4/1 はんだ接続の高信頼性化技術とその評価
1992/11/11 VLSI試験/故障解析技術
1988/2/1 半導体の故障モードと加速試験
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