化学、電気、自動車、精密機器、建材、医療、食品、化粧品などのあらゆる分野の製品で、異物や異常によるトラブルシューティングが発生しています。それに伴う顧客からのクレーム件数は増加する傾向にあります。このトラブルシューティングは社運を左右しかねない重大問題に発展する可能性もあり、早期解決は重要な課題となります。
　その要因の特定手段として顕微IR測定他による異物分析が実施されています。ところが近年製造技術の進歩や製品の多様化により異物や異常が複雑かつ微小化し、分析手段も高度化を余儀なくされています。これに対し分析機器や関連装置の進歩も著しく、これまで困難であった分析が可能となっています。この結果、各製造・加工メーカでは品質管理・保障部門の充実を図り、迅速・精緻なトラブルシューティングへの対応を重要視するようになってきております。
　本セミナーでは、このような業務を担当され異物分析を始めて間もない、またスキルアップを図りたい方々を対象に、サンプリングや前処理、分析手法、スペクトル解析等について説明いたします。特に分析事例を多数紹介しながら進めてまいります。本セミナーで基礎的な知識や技術を収得して頂き、自社での異物問題解決への活用、さらにはより高度な異物分析デザインを構築する能力を身につけて頂ければ幸いであります。

1. 異物とは
   1. 異物の定義
   2. 異物分析の歴史
   3. 異物の形態分類
   4. 異物の発生原因 (推定)
   5. 異物の具体例
2. 異物分析方法
   1. 一般的な異物分析方法
   2. 分析方法の選択
   3. 異物分析に用いられる分析機器の特徴と使用ポイント
      • 顕微IR
      • イメージング
      • nanoIR
      • EPMA
      • レーザーラマン
      • TOF-SIMSなどの利点と欠点
3. 異物のサンプリング法および前処理法の選択
   1. 異物のサンプリングの実際
      • 光学顕微鏡
      • 手作業
      • マニピュレーター
   2. 異物の前処理法
      • 断面・切片作製
      • ミクロ抽出
      • ミクロろ過
      • 傾斜切削
      • 熱圧ろ過など
4. 異物分析事例
   1. 顕微IR測定による分析事例
      • 反射法
      • STR法
      • 透過法など
   2. その他の分析機器による分析事例
      • イメージング
      • nanoIR
      • レーザーラマン
      • EPMA
      • TOF-SIMS
      • Py-GCMSなど
5. スペクトル解析 (赤外スペクトルの解析を中心として)
   1. 赤外スペクトルの解析
   2. EPMAスペクトルの解析
   3. Py-GCMSスペクトル他の解析
   4. ラマンスペクトルの解析
6. 技術トピックス
   1. 複数の機器・手法を用いて解析した分析事例
   2. 失敗・困難な分析事例
7. 実証と対策
   1. 実証と対策
      • 問題解決のための分析手段と証明
   2. 異物分析デザイン
• 質疑応答