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ベイズ推定を用いたデータ解析

ベイズ推定を用いたデータ解析

~ベイズ推定の概念と実際 ~
オンライン 開催

視聴期間は2025年4月24日〜5月8日を予定しております。
お申し込みは2025年5月6日まで承ります。

概要

本セミナーでは、ベイズ推定の基礎から実装までを解説し、どのように応用できるのかをX線光電子分光スペクトルや磁気コンプトン散乱データを例にとって説明いたします。

開催日

  • 2025年5月6日(火) 12時30分 2025年5月8日(木) 16時30分

受講対象者

  • 材料研究者、分析部門研究者など
  • データ解析の高度化を図りたい方

修得知識

  • ベイズ推定の考え方と使い方

プログラム

 本講義では、従来のデータ解析では推定できなかった間接測定量の推定精度は、ベイズ推定を用いることで推定可能となるだけでなく、測定により取得したデータから測定パラメータからモデルに基づく物性パラメータまで精度付きで推定可能となります。またベイズ推定の基礎から実装までを解説し、どのように応用できるのかをX線光電子分光スペクトルや磁気コンプトン散乱データを例にとって説明いたします。

  1. ベイズ推定を用いたデータ解析
    1. 従来のデータ解析とその問題点
    2. ベイズ推定を用いる意義
  2. ベイズ推定の基礎
    1. ベイズの定理
    2. メトロポリス法と交換レプリカモンテカルロ法
    3. ベイズ推定の実装
  3. ベイズ推定の応用例 (X線光電子分光データと磁気コンプトン散乱データを用いて)
    1. X線光電子分光測定スペクトルのベイズ解析
      1. ベイズ推定によるスペクトル分解
      2. 実際のデータへの適用
      3. ハイパーパラメータチューニング
    2. 磁気コンプトン散乱プロファイルのベイズ解析
      1. 磁気コンプトン散乱測定について
      2. 磁気コンプトン散乱測定の終了条件設定
    3. 時分割X線回折測定のベイズ解析
      1. 時分割X線回折測定について
      2. 時分割X線回折測定からの反応モデル推定

講師

主催

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お問い合わせ

本セミナーに関するお問い合わせは tech-seminar.jpのお問い合わせからお願いいたします。
(主催者への直接のお問い合わせはご遠慮くださいませ。)

受講料

1名様
: 45,000円 (税別) / 49,500円 (税込)
複数名
: 22,500円 (税別) / 24,750円 (税込) (案内をご希望の場合に限ります)

案内割引・複数名同時申込割引について

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「案内の希望」をご選択いただいた場合、1名様 42,000円(税別) / 46,200円(税込) で受講いただけます。
複数名で同時に申込いただいた場合、1名様につき 22,500円(税別) / 24,750円(税込) で受講いただけます。

  • R&D支援センターからの案内を希望する方
    • 1名様でお申し込みの場合 : 1名で 42,000円(税別) / 46,200円(税込)
    • 2名様でお申し込みの場合 : 2名で 45,000円(税別) / 49,500円(税込)
    • 3名様でお申し込みの場合 : 3名で 67,500円(税別) / 74,250円(税込)
  • R&D支援センターからの案内を希望しない方
    • 1名様でお申し込みの場合 : 1名で 45,000円(税別) / 49,500円(税込)
    • 2名様でお申し込みの場合 : 2名で 90,000円(税別) / 99,000円(税込)
    • 3名様でお申し込みの場合 : 3名で 135,000円(税別) / 148,500円(税込)

アーカイブ配信セミナー

  • 当日のセミナーを、後日にお手元のPCやスマホ・タブレッドなどからご視聴・学習することができます。
  • 配信開始となりましたら、改めてメールでご案内いたします。
  • 視聴サイトにログインしていただき、ご視聴いただきます。
  • 視聴期間は2025年4月24日〜5月8日を予定しております。
    ご視聴いただけなかった場合でも期間延長いたしませんのでご注意ください。

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