技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
視聴期間は2024年11月12日〜25日を予定しております。
お申し込みは2024年11月12日まで承ります。
本セミナーでは、金属材料より優れた耐熱性、高比強度、耐摩耗性を持つセラミックス材料について取り上げ、セラミックスの基礎から、破壊メカニズムと対策、強度試験、信頼性評価について詳解いたします。
構造物や製品における部品の破損は、システムの故障や重大な事故を引き起こす可能性があります。したがって、長期信頼性を確保した構造物や製品を強度設計製作するためには、使用する材料の強度試験を行い、強度特性を理解することは必須です。金属は、強く、よく伸びる性質を有します。そのため、いきなり壊れることはなく、必ずその変形や損傷の徴候がみられます。一方でセラミックスは、金属材料と比較して耐熱性、高比強度、耐摩耗性など優れた特性を有しています。しかしながら最大の欠点は、非常に脆く、金属のように伸びないためにその変形や損傷の徴候が見られず、突然、脆性破壊します。このように金属とは対照的である、脆く伸びないセラミックスならではの強度の考え方・取扱い方があります。
そこで本講座では金属材料と比較して、(1)破壊メカニズムや破損の仕方の違いを説明し、(2)破損したセラミックスの原因の見つけ方の基礎を学びます。次に、(3)強度試験方法および強度データの取扱い方の基本について実データを用いて解説します。
教員、学生および医療従事者はアカデミー割引価格にて受講いただけます。
| 開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
|---|---|---|---|
| 2026/10/8 | ICH (Q1) をふまえた開発段階の安定性試験、リテスト期間/有効期間の予測方法と統計学的解析による設定方法 | オンライン | |
| 2026/10/8 | 積層セラミックコンデンサの故障メカニズム、解析事例と品質向上 | オンライン | |
| 2026/10/9 | 応力集中部、溶接継手、ボルト締結部における破損・ゆるみメカニズムとCAE寿命設計法、強度増大法および強度設計基準 | オンライン | |
| 2026/10/14 | 研究開発・ものづくりに必要な安全教育と対策 | オンライン | |
| 2026/10/15 | 品質保証のためのデザインレビューの効率的・有効な進め方 | 東京都 | 会場・オンライン |
| 2026/10/15 | 業務手順書、作業手順書の作成・運用によるノウハウの継承 | オンライン | |
| 2026/10/19 | 品質管理の基礎 (4日間) | オンライン | |
| 2026/10/19 | 品質管理の基礎 (2) | オンライン | |
| 2026/10/19 | 非鉛圧電材料の研究動向と高性能化に向けた展望 | オンライン | |
| 2026/10/20 | 不良予測と設備の予兆保全へのAIおよびデジタル技術の導入と活用のポイント | オンライン | |
| 2026/10/20 | デジタル画像相関法の原理と変位、ひずみ測定への活用方法 | オンライン | |
| 2026/10/21 | CAE解析ステップアップセミナー | 東京都 | 会場・オンライン |
| 2026/10/21 | 不良予測と設備の予兆保全へのAIおよびデジタル技術の導入と活用のポイント | オンライン | |
| 2026/10/22 | ガラスの破損防止・高強度化技術 | オンライン | |
| 2026/10/23 | 機械設計のための「機械の基礎」総ざらい | 東京都 | 会場・オンライン |
| 2026/10/26 | ウィスカの発生メカニズム・故障解析と未然防止・再発防止策 | 東京都 | 会場・オンライン |
| 2026/10/26 | 業務手順書、作業手順書の作成・運用によるノウハウの継承 | オンライン | |
| 2026/10/26 | 品質管理の基礎 (3) | オンライン | |
| 2026/10/27 | 産業現場への実装を起点としたニューラルネットおよび強化学習の原理と活用方法 | オンライン | |
| 2026/10/27 | 製造現場における正常/異常判定の考え方とデータ解析結果の使いこなし方 | オンライン |
| 発行年月 | |
|---|---|
| 1993/4/1 | はんだ接続の高信頼性化技術とその評価 |
| 1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |
| 1988/2/1 | 半導体の故障モードと加速試験 |
| 1987/8/1 | 機構部品の故障現象と加速試験 |
| 1985/10/1 | 電子部品・電子装置の環境信頼性試験 |