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高分子材料における結晶化プロセスの基礎、構造形成とその制御および構造解析技術

高分子材料における結晶化プロセスの基礎、構造形成とその制御および構造解析技術

～高分子材料の結晶化過程、構造形成では何が起こっているのか～
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視聴期間は2024年9月2日〜13日を予定しております。
お申し込みは2024年9月2日まで承ります。

概要

本セミナーでは、高分子結晶の構造と結晶化プロセスの特徴について解説し、諸条件により最終的にどのような構造形成につながるか、実例を交えながら紹介いたします。
また、高分子の結晶化メカニズムの解析方法、新規解析技術についても質問を受け付けいたします。

開催日

  • 2024年9月2日(月) 10時30分 ～ 2024年9月13日(金) 16時30分

受講対象者

  • 新しく高分子結晶を取り扱うエンジニア
  • 高分子結晶の構造解析に新しく携わるエンジニア
  • 高分子結晶の関係する測定データの解釈で課題を抱えている方
  • 高分子結晶の解析方法で課題を抱えている方

修得知識

  • 高分子が長い紐状である事に起因する結晶化挙動の特異性
  • 簡易かつ迅速な光学顕微鏡法から最新の放射光解析技術まで
  • 目的に応じた手法の使い分けが出来るようになる

プログラム

　結晶性高分子材料の物性は、結晶が織りなすナノからミクロンスケールの階層的な構造により大きく左右される。こうした結晶構造のコントロールは、より優れた物性の発現や、更なる高機能化を図る為に必須である。従って、様々なスケールで結晶の構造を解析すると共に、そうした構造が形成される機構を正しく理解する必要がある。高分子は長い紐状である事に起因して、特異な結晶化挙動を示す。
　本講座では先ず、低分子や金属と対比しながら、高分子結晶の構造と結晶化プロセスの特徴について解説する。さらに、物性との関わりが深い項目として、分子構造の規則性、温度条件、配向条件などを取り上げ、最終的にどのような構造形成につながるか、実例を交えながら紹介する。引き続き、高分子結晶の階層的な構造を解析する手法として、顕微鏡法、および、回折・散乱による解析法について解説する。目的に応じて適切に使い分る事を念頭に、簡易かつ迅速な光学顕微鏡法から最新の放射光を用いた手法まで、幅広く紹介する。

  1. 高分子結晶及び結晶化プロセスの基礎とその制御
    1. 「結晶」とは何か
      1. 「結晶」の定義
      2. 結晶はなぜ生成するか
    2. 高分子結晶の構造的特徴
      1. 低分子結晶との対比
      2. 線状高分子の凝集構造
      3. 高分子結晶特有の高次構造
        • ラメラ晶
        • 球晶
        • 繊維構造
    3. 高分子結晶の生成プロセス
      1. 結晶核の形成
      2. 二次核生成→生長
      3. 結晶化速度
      4. 結晶化温度と融点
    4. 物性との関わりとその制御・評価法
      1. 結晶化度の評価法
      2. 融点の評価法
      3. 分子構造の規則性
        • 融点への影響
        • 結晶成長への影響
      4. 配向
        • 結晶化と物性への影響
      5. 分子量
        • 結晶化
        • 機械的物性
        • 成形性への影響
      6. 球晶サイズ
        • 機械的物性と透明性への影響
    5. 高分子結晶化の特性を活用した加工技術の例
      1. ゲル紡糸
      2. ナノ配向結晶体 (NOC)
  2. 構造解析法1 – 顕微鏡法
    1. 「見える」ための必要条件
      1. 分解能
        • 波長による限界
        • 結像による限界
        • 試料による限界
      2. コントラスト
        • 明暗
        • 色
    2. 光学顕微鏡
      1. 照明法について
        • 透過
        • 落射
      2. 対物レンズ
      3. 偏光顕微鏡
      4. 微分干渉顕微鏡
    3. 電子顕微鏡
      1. 走査型電子顕微鏡
      2. 透過型電子顕微鏡
        • 明視野像観察
        • 電子回折
        • 暗視野観察
        • 三次元像
    4. 原子間力顕微鏡
      1. AFMの原理
      2. 測定上の留意点
        • 試料作成
        • フィードバックパラメータ
  3. 構造解析法2 – 回折・散乱による方法
    1. 回折・散乱の基礎
      1. ブラッグ回折
      2. フーリエ変換
      3. 逆空間
    2. 結晶の回折
      1. 逆格子
        • 回折反射の指数
        • エヴァルト球
        • 限界球
      2. 乱れた結晶からの回折
        • 回折点の広がりの解釈
      3. 多結晶体の回折
        • 粉末図形
        • 繊維図形
      4. 微結晶サイズの評価
        • シェラーの式
      5. データ処理の実例
      6. 電子回折
    3. 小角散乱
      1. 積層ラメラの回折
      2. インバリアント
    4. 放射光を用いた解析の実例
      1. 高速時分割測定
      2. マッピング
    • 質疑応答
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講師

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主催

サイエンス＆テクノロジー 株式会社
お支払い方法、キャンセルの可否は、必ずお申し込み前にご確認をお願いいたします。

お問い合わせ

本セミナーに関するお問い合わせは tech-seminar.jpのお問い合わせからお願いいたします。
(主催者への直接のお問い合わせはご遠慮くださいませ。)

受講料

1名様
: 36,200円 (税別) / 39,820円 (税込)
複数名
: 25,000円 (税別) / 27,500円 (税込)

複数名受講割引

  • 2名様以上でお申込みの場合、1名あたり 25,000円(税別) / 27,500円(税込) で受講いただけます。
    • 1名様でお申し込みの場合 : 1名で 36,200円(税別) / 39,820円(税込)
    • 2名様でお申し込みの場合 : 2名で 50,000円(税別) / 55,000円(税込)
    • 3名様でお申し込みの場合 : 3名で 75,000円(税別) / 82,500円(税込)
  • 同一法人内 (グループ会社でも可) による複数名同時申込みのみ適用いたします。
  • 受講券、請求書は、代表者にご郵送いたします。
  • 請求書および領収書は1名様ごとに発行可能です。
    申込みフォームの通信欄に「請求書1名ごと発行」とご記入ください。
  • 他の割引は併用できません。
  • サイエンス&テクノロジー社の「2名同時申込みで1名分無料」価格を適用しています。

アカデミー割引

教員、学生および医療従事者はアカデミー割引価格にて受講いただけます。

  • 1名様あたり 10,000円(税別) / 11,000円(税込)
  • 企業に属している方(出向または派遣の方も含む)は、対象外です。
  • お申込み者が大学所属名でも企業名義でお支払いの場合、対象外です。

アーカイブ配信セミナー

  • 「ビデオグ」を使ったアーカイブ配信セミナーとなります。
  • 当日のセミナーを、後日にお手元のPCなどからご視聴ができます。
  • お申し込み前に、 視聴環境 をご確認いただき、 視聴テスト にて動作確認をお願いいたします。
  • 別途、ID,パスワードをメールにてご連絡申し上げます。
  • 視聴期間は2024年9月2日〜13日を予定しております。
    ご視聴いただけなかった場合でも期間延長いたしませんのでご注意ください。
  • セミナー資料は印刷・送付いたします。
  • ご自宅への書類送付を希望の方は、通信欄にご住所・宛先などをご記入ください。
  • ご視聴は、お申込み者様ご自身での視聴のみに限らせていただきます。不特定多数でご覧いただくことはご遠慮下さい。
  • 講義の録音、録画などの行為や、権利者の許可なくテキスト資料、講演データの複製、転用、販売などの二次利用することを固く禁じます。
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