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原子間力顕微鏡 (AFM) の基礎とポリマー材料のナノスケール力学物性評価

原子間力顕微鏡 (AFM) の基礎とポリマー材料のナノスケール力学物性評価

東京都 開催 会場 開催
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開催日

  • 2019年6月14日(金) 13時30分 ～ 16時30分

受講対象者

  • 原子間力顕微鏡 (AFM) を日常的に使っている方
  • 原子間力顕微鏡 (AFM) の像解釈に悩んでいる方
  • これからAFMを使う方

修得知識

  • AFMの動作原理
  • AFM位相像の正しい解釈方法
  • ナノスケール力学物性評価の手順
  • ポリマーアロイ・ブレンド・コンポジット、ゴム・エラストマーなどの実例

プログラム

　原子間力顕微鏡 (AFM) は材料研究開発の現場で利用が進む新しいタイプの顕微鏡である。市場調査の結果によると、特にポリマー材料への応用が進んでいることもわかっている。構造分析のみならず力学物性などの他の顕微鏡では得難い情報を与えることもAFMの大きな魅力である。本講座では、AFMで得られる画像の解釈に必要ないくつかの勘所を、実例をもって紹介する。この講座を受けることでAFMの基礎的な知識を得ることができる。
　さらにどのようにしてナノスケール力学物性評価が可能となるのか、またそれによってどのような世界が広がるのかについて学ぶことができる。
　また、講師はAFMによるナノスケール力学物性計測についてISO国際標準化の主査を務める人物でもあるので、世界的な最新動向についても紹介いただける予定である。

  1. AFMの基礎
    1. AFMの動作原理
    2. タッピングモード位相像の意味
  2. ナノスケール力学物性評価
    1. 接触力学の基礎
    2. 弾性率像の測定手順
    3. ポリマー材料への適用事例
  3. 粘弾性評価への応用
    1. 粘弾性の基礎
    2. 応力緩和像
    3. 損失正接像
  4. ホットトピックス～ISO標準化動向
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講師

  • 中嶋 健 氏
    東京工業大学 物質理工学院 応用化学系
    教授
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会場

ちよだプラットフォームスクウェア

503 会議室

東京都 千代田区 神田錦町3-21
ちよだプラットフォームスクウェアの地図
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主催

株式会社 シーエムシー・リサーチ
お支払い方法、キャンセルの可否は、必ずお申し込み前にご確認をお願いいたします。

お問い合わせ

本セミナーに関するお問い合わせは tech-seminar.jpのお問い合わせからお願いいたします。
(主催者への直接のお問い合わせはご遠慮くださいませ。)

受講料

1名様
: 44,444円 (税別) / 48,000円 (税込)
複数名
: 19,907円 (税別) / 21,500円 (税込) (案内をご希望の場合に限ります)

案内割引・複数名同時申込割引について

シーエムシーリサーチからの案内をご希望の方は、割引特典を受けられます。
また、2名以上同時申込で全員案内登録をしていただいた場合、2名様目以降は半額 (税込 21,500円)となります。

  • Eメール案内を希望する方
    • 1名様でお申し込みの場合 : 1名で 39,815円(税別) / 43,000円(税込)
    • 2名様でお申し込みの場合 : 2名で 59,722円(税別) / 64,500円(税込)
    • 3名様でお申し込みの場合 : 3名で 79,630円(税別) / 86,000円(税込)
  • Eメール案内を希望しない方
    • 1名様でお申し込みの場合 : 1名で 44,444円(税別) / 48,000円(税込)
    • 2名様でお申し込みの場合 : 2名で 88,889円(税別) / 96,000円(税込)
    • 3名様でお申し込みの場合 : 3名で 133,333円(税別) / 144,000円(税込)

アカデミック割引

  • 1名様あたり 13,889円(税別) / 15,000円(税込)

学校教育法にて規定された国、地方公共団体、および学校法人格を有する大学、大学院の教員、学生に限ります。

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