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異物分析
異物分析
～失敗しないスペクトル分析を進めていくには～
東京都 開催
会場 開催
本セミナーは終了いたしました。
開催日
- 2015年10月30日(金) 10時30分 ～ 16時30分
受講対象者
- 異物混入対策が求められる製品の技術者、品質担当者、管理者
- 工業用途
- 精密機械
- 半導体製造
- 電子機器・エレクトロニクス
- 液晶工場
- ガラス・光学加工
- プラスチック成形
- 塗装
- フィルム加工
- 医療用途
- 研究室
- 無菌室
- 手術室
- 食品用途
- 調理場
- 製造ライン
- 製薬工場
- バイオハザード施設
- 動物実験施設
- RI (環境) 施設
- 工業用途
- 異物分析の担当者、オペレータ
- 異物分析に携わる方
修得知識
- 赤外、ラマン分光法の基礎知識
- 基礎知識の異物分析への展開
- サンプリング法の実際
プログラム
食品中の異物が話題になっているが、異物は医薬品、塗膜、プラスチック成品、半導体、電子基板などいろいろな製品中で発生する。異物発生の対策を行うには、まず異物の構造を知ることが必要であり、それが混入経路の推定に役立つだけでなく異物混入防止の重要なポイントとなる。
異物分析は微小物の分析に限ったわけではないが、最近の異物は微小化の傾向にありほとんどが顕微分析で行われる。言い換えれば、現在の顕微分析はサンプリング技術と微小・微量分析の統合技術であるともいえる。異物の構造同定には頻繁にFT – IR、ラマン分光法が使用されることが多い。より良いスペクトル測定には、両分光法の特徴を把握すると同時に、試料サンプリングが重要な要素となる。
最近、いろいろなサンプリングツールが利用できるようになってきたので、それらをいかに利用するかを実際に見ていただくことでサンプリング重要さへの理解を深めていただきたい。
- 異物の形態観測
- 形態観察とサンプリング方法
- どんな測定法を適用するか
- FT-IR分光法の基礎
- 測定法のいろいろ
- 測定法の違いとスペクトル
- ラマン分光の基礎
- 測定法のいろいろ
- 蛍光対策
- 注意事項
- サンプリングツール
- サンプリングツールのいろいろ
- サンプリングツールの使い方実演
- スペクトル分析
- FT-IR、ラマン分析事例の紹介
- スペクトルデータベース
- 目的とサンプル形状に適合した測定法の選択
- トピックス イメージング測定など
- 質疑応答・名刺交換
講師
会場
主催
お支払い方法、キャンセルの可否は、必ずお申し込み前にご確認をお願いいたします。
受講料
1名様
:
42,750円 (税別) / 46,170円 (税込)
複数名
:
22,500円 (税別) / 24,300円 (税込)
複数名同時受講の割引特典について
- 2名様以上でお申込みの場合、
1名あたり 22,500円(税別) / 24,300円(税込) で受講いただけます。- 1名様でお申し込みの場合 : 1名で 42,750円(税別) / 46,170円(税込)
- 2名様でお申し込みの場合 : 2名で 45,000円(税別) / 48,600円(税込)
- 3名様でお申し込みの場合 : 3名で 67,500円(税別) / 72,900円(税込)
- 受講者全員が会員登録をしていただいた場合に限ります。
- 同一法人内(グループ会社でも可)による複数名同時申込みのみ適用いたします。
- 受講券、請求書は、代表者にご郵送いたします。
- 請求書および領収書は1名様ごとに発行可能です。
申込みフォームの通信欄に「請求書1名ごと発行」と記入ください。 - 他の割引は併用できません。
本セミナーは終了いたしました。
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