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FT-IRと顕微ラマンの基礎と異物分析を中心とした測定・解析事例

FT-IRと顕微ラマンの基礎と異物分析を中心とした測定・解析事例

東京都 開催 会場 開催
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概要

本セミナーでは、FT-IRや顕微IRを用いた異物分析のノウハウの基礎や、前処理や測定のちょっとしたコツできれいなスペクトルを得る方法を解説いたします。

開催日

  • 2014年2月18日(火) 12時30分 ～ 16時30分

受講対象者

  • 異物混入対策が求められる製品の技術者、品質担当者、管理者
    • 工業用途
      • 精密機械
      • 半導体製造
      • 電子機器・エレクトロニクス
      • 液晶工場
      • ガラス・光学加工
      • プラスチック成形
      • 塗装
      • フィルム加工
    • 医療用途
      • 研究室
      • 無菌室
      • 手術室
    • 食品用途
      • 調理場
      • 製造ライン
    • 製薬工場
    • バイオハザード施設
    • 動物実験施設
    • RI (環境) 施設
  • 異物分析の担当者、オペレータ
  • 異物分析に携わる方

修得知識

  • 赤外分光法の基礎
  • 正しいスペクトルの取得・取扱・データ処理
  • スペクトルの解析事例

プログラム

  • FTIRや顕微IRを用いた異物分析のノウハウを基礎から丁寧に説明。
  • 前処理や測定のちょっとしたコツできれいなスペクトルを得る方法を解説。
  • さらにラマン分光法の特長を活かした、異物を中心とした分析テクニックの基礎から応用編までを紹介。
  1. 赤外分光法の基礎とスペクトルの解析法
    1. 赤外分光法の基礎
    2. スペクトルの解析法の基礎
    3. スペクトルの帰属の例
    4. 検索プログラムを利用した解析法
  2. FTIRの原理
    1. FTIRの装置の原理～IRスペクトルが得られるまで～
    2. FTIRの波数拡張性と近赤外スペクトル、遠赤外スペクトル
    3. 最適な測定パラメータの設定
  3. 各種測定法の原理とスペクトルの取扱～正しいスペクトルの取得、データ処理、解析事例～
    1. 透過測定の原理と測定テクニック
    2. ATRを中心とした反射測定の原理と測定テクニック
  4. 顕微FTIR
    1. 顕微FTIRの原理
    2. 顕微FTIRの付属品を含めた試料の特定
    3. クオリティの高いデータ取得のためのテクニック～前処理編～
    4. クオリティの高いデータ取得のためのテクニック～測定編～
    5. 赤外イメージングと異物分析を中心とした測定例
  5. 顕微ラマン分光法
    1. ラマンの基礎
    2. ラマンとIRの違い
    3. 異物分析のポイント
    4. ラマンの特長を活かした異物分析を中心とした分析事例
    • 質疑応答・名刺交換
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会場

タイム24ビル

4F 研修室

東京都 江東区 青海2丁目4-32
タイム24ビルの地図
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主催

株式会社 R&D支援センター
お支払い方法、キャンセルの可否は、必ずお申し込み前にご確認をお願いいたします。

お問い合わせ

本セミナーに関するお問い合わせは tech-seminar.jpのお問い合わせからお願いいたします。
(主催者への直接のお問い合わせはご遠慮くださいませ。)

受講料

1名様
: 47,600円 (税別) / 49,980円 (税込)

割引特典について

  • R&D支援センターからの案内登録をご希望の方は、割引特典を受けられます。
    • 1名でお申込みいただいた場合、1名につき47,250円 (税込)
    • 2名同時にお申し込みいただいた場合、2名で49,980円 (税込)
    • 案内登録をされない方は、1名につき49,980円 (税込)
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