技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
| 開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
|---|---|---|---|
| 2026/5/22 | AIエージェントの基礎と業務導入のポイント | オンライン | |
| 2026/5/25 | はんだ付け用フラックスと実装不良の原因と対策 | オンライン | |
| 2026/5/26 | 異種金属接触腐食の機構、事例と対策技術 | 東京都 | 会場・オンライン |
| 2026/5/26 | パワー半導体の先進パッケージに求められる高耐熱・信頼性実装材料・接合技術と新規材料・実装構造の開発、信頼性評価技術 | オンライン | |
| 2026/5/27 | 熱対策技術 | オンライン | |
| 2026/5/27 | 金属の表面処理技術 | オンライン | |
| 2026/5/29 | FT-IRを用いた樹脂の劣化解析と寿命予測への活用可能性 | オンライン | |
| 2026/5/29 | 導入品 (アカデミアへの委託試験も含む) の信頼性基準対応と信頼性基準試験の生データの取扱い | オンライン | |
| 2026/6/1 | セラミックス材料を扱うための実践的な総合知識 | オンライン | |
| 2026/6/12 | 積層セラミックコンデンサ (MLCC) の設計、材料技術、開発動向と課題 | オンライン | |
| 2026/6/15 | データセンターで用いられる最新放熱冷却技術 | オンライン | |
| 2026/6/16 | 金属材料の疲労破壊メカニズムと疲労設計 | オンライン | |
| 2026/6/16 | データセンターで用いられる最新放熱冷却技術 | オンライン | |
| 2026/6/18 | グローバル製品開発の問題と対策 | 東京都 | オンライン |
| 2026/6/19 | 使用環境・製造条件の悪影響を受けないロバストな設計条件を見極める品質工学 | オンライン | |
| 2026/6/25 | 防水機器開発の基礎と応用設計 | オンライン | |
| 2026/6/29 | 積層セラミックコンデンサ (MLCC) の設計、材料技術、開発動向と課題 | オンライン | |
| 2026/7/9 | 電子部品の特性とノウハウ (2日間) | オンライン | |
| 2026/7/9 | 電子部品の特性とノウハウ (1) | オンライン | |
| 2026/7/13 | 品質管理の基礎 (4日間) | オンライン | |
| 2026/7/13 | 品質管理の基礎 (1) | オンライン | |
| 2026/7/23 | 電子部品の特性とノウハウ (2) | オンライン | |
| 2026/7/28 | 品質管理の基礎 (2) | オンライン | |
| 2026/8/14 | 品質管理の基礎 (4) | オンライン | |
| 2026/8/24 | 品質管理の基礎 (3) | オンライン |
| 発行年月 | |
|---|---|
| 2012/3/10 | 中堅電子部品12社 技術開発実態分析調査報告書 |
| 2012/3/5 | PEDOTの材料物性とデバイス応用 |
| 2011/10/5 | 電子部品大手8社 技術開発実態分析調査報告書 |
| 2011/10/3 | '12 コンデンサ業界の実態と将来展望 |
| 2010/10/1 | '11 コンデンサ業界の実態と将来展望 |
| 2009/9/1 | '10 コンデンサ業界の実態と将来展望 |
| 2009/6/25 | 携帯端末 技術開発実態分析調査報告書 (PDF版) |
| 2009/6/25 | 携帯端末 技術開発実態分析調査報告書 |
| 2009/5/20 | 日本電気と富士通2社分析 技術開発実態分析調査報告書 |
| 2009/5/20 | 日本電気と富士通2社分析 技術開発実態分析調査報告書 (PDF版) |
| 2006/6/16 | 電気・電子機器の振動と温・湿度複合環境試験 |
| 2006/3/10 | 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析 |
| 1998/6/15 | 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術 |
| 1993/4/1 | はんだ接続の高信頼性化技術とその評価 |
| 1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |
| 1988/2/1 | 半導体の故障モードと加速試験 |
| 1987/8/1 | 機構部品の故障現象と加速試験 |
| 1986/12/1 | 耐ノイズ機器実装設計技術 |
| 1985/10/1 | 電子部品・電子装置の環境信頼性試験 |