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パワー半導体デバイスの故障要因と高信頼化のための故障解析技術
パワー半導体デバイスの故障要因と高信頼化のための故障解析技術
東京都 開催
会場 開催
本セミナーは終了いたしました。
概要
本セミナーでは、パワー半導体デバイスの高信頼化のために学んでおきたい、故障要因や加速試験・故障解析手法などについて、最新動向を含めて解説いたします。
開催日
- 2018年11月26日(月) 13時00分 ～ 16時30分
受講対象者
- パワー半導体デバイス、モジュールの技術者、開発者、品質担当者、管理者
- パワー半導体材料メーカ、部品メーカの方
修得知識
- パワーエレクトロニクスの基礎
- パワー半導体デバイスの基礎
- パワー半導体デバイスの高信頼化技術
- 故障解析技術
- パワー半導体デバイスの高信頼化に関する最近の動向
プログラム
21世紀は最終的に消費されるエネルギーの大半が電力になると予想されており、まさに電気の時代の到来といえます。パワー半導体デバイスは、電力エネルギーを目的に合わせて変換する電子デバイスであり、家電製品からハイブリッド自動車、太陽光発電や風力発電、さらには直流送電など電力ネットワーク構築に欠かせないキーコンポーネントです。今後ますます拡大する需要に対応するため、パワー半導体デバイスの信頼性に対する要求も高まってきています。
本講演では、パワー半導体デバイスの信頼性の考え方から、高信頼化に向けた加速試験および故障解析手法について、最近の動向を踏まえて解説します。
- パワーエレクトロニクス技術
- パワーエレクトロニクスとは
- パワー半導体デバイス
- 電力システムとパワーエレクトロニクス
- パワー半導体デバイスの信頼性
- 故障原因と故障事例
- 高信頼化の手法
- 故障モードと加速試験
- ミッションプロファイル
- 故障解析技術
- 加速試験
- 故障解析手法 (一般的技術から最新技術まで)
- 今後の展開
- 次世代パワー半導体デバイスの信頼性
- 質疑応答・名刺交換
講師
会場
主催
お支払い方法、キャンセルの可否は、必ずお申し込み前にご確認をお願いいたします。
受講料
1名様
:
38,000円 (税別) / 41,040円 (税込)
複数名
:
20,000円 (税別) / 21,600円 (税込)
複数名同時受講の割引特典について
- 2名様以上でお申込みの場合、
1名あたり 20,000円(税別) / 21,600円(税込) で受講いただけます。- 1名様でお申し込みの場合 : 1名で 38,000円(税別) / 41,040円(税込)
- 2名様でお申し込みの場合 : 2名で 40,000円(税別) / 43,200円(税込)
- 3名様でお申し込みの場合 : 3名で 60,000円(税別) / 64,800円(税込)
- 同一法人内 (グループ会社でも可) による複数名同時申込みのみ適用いたします。
- 受講券、請求書は、代表者にご郵送いたします。
- 請求書および領収書は1名様ごとに発行可能です。
申込みフォームの通信欄に「請求書1名ごと発行」と記入ください。 - 他の割引は併用できません。
本セミナーは終了いたしました。
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