技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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2026年、世界の半導体産業は、かつてない二重の危機に直面している。一方では、Microsoft・Google・Meta・AmazonをはじめとするハイパースケーラーによるAIデータセンター投資が史上空前の熱狂を呈し、NVIDIAを頂点とするAI半導体需要は青天井の様相を見せている。市場は「AI が世界を変える」という物語に酔いしれ、株式市場は連日最高値を更新している。しかし、その熱狂の足元で、半導体製造を物理的に支える基盤インフラが、静かに、しかし決定的に崩れ始めている。
2026年3月、カタールLNG施設の停止により、世界のヘリウム供給の約33%が一夜にして失われた。 ヘリウムは、ドライエッチング・CVD・ALD・EUV静電チャック・3D NAND積層・GAAナノシート形成における±0.2°Cの熱制御に不可欠な、代替不能のガスである。同時に、ナフサ逼迫とPFAS規制 (3M撤退・ECHA規制) が、PFA配管 (1ファブあたり100km) 、Kalrez (FFKM/FKM) シール材、Fomblin/Krytox (PFPE) 潤滑剤、PEEK樹脂、そしてフォトレジスト (ナフサ由来芳香族・PFAS由来PAGアニオン) の供給を直撃している。これは単なる「サプライチェーンの混乱」ではない。TSMC・Samsung・Intel・Rapidus・Sony・パワー半導体メーカーの生産ラインが、物理的に停止する事態が、すでにカウントダウンに入っている。装置メーカー (AMAT・Lam・TEL・ASML・KLA) のアフターマーケット収益は 24〜40%の崩壊が予測され、AEC – Q100の硬直性により車載半導体は信頼性の壁に直面する。そして危機がPhase 4 (6カ月超) に到達した時、それは不可逆的なキャパシティロスを意味する。
本講演は、この「AI熱狂のバブル」と「製造基盤の物理的崩壊」という、誰も同時に語ろうとしない二つの現実を一枚の地図上に描き出すことを目的とする。さらに、従来の「ストック型」サプライチェーン管理 (例:4カ月分のナフサ備蓄) の限界を指摘し、部品番号レベルのQVL (Qualified Vendor List) 追跡による「フロー型」管理への根本的パラダイム転換を提言する。中東情勢悪化からから始まったカウントダウンに、我々に残された猶予は長くても6〜12カ月しかない。気づいた時には手遅れとなる。動くなら今しかない (このセミナーでも遅い)
教員、学生および医療従事者はアカデミー割引価格にて受講いただけます。
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| 開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
|---|---|---|---|
| 2026/7/2 | 光電融合パッケージングと光導波路の技術展望 | オンライン | |
| 2026/7/2 | 半導体パッケージ技術の基礎講座 | オンライン | |
| 2026/7/3 | 半導体ドライエッチングの基礎とプロセス制御技術 | オンライン | |
| 2026/7/7 | 銀焼結接合によるパワーデバイス実装の界面制御と信頼性設計 | オンライン | |
| 2026/7/7 | 先端半導体デバイスにおける多層配線技術と2.5D/3Dデバイス集積化技術 (2日間) | オンライン | |
| 2026/7/7 | 先端メモリ・ロジックデバイスのためのCu及びPost-Cu多層配線技術の基礎から最新動向 | オンライン | |
| 2026/7/8 | パワーデバイスの結晶欠陥評価技術とその動向 | オンライン | |
| 2026/7/10 | CMPの基礎と最適なプロセスを実現する実践的総合知識 | オンライン | |
| 2026/7/10 | 半導体パッケージの作製プロセスとその課題および最新技術動向 | オンライン | |
| 2026/7/14 | 半導体ドライエッチングの基礎とプロセス制御技術 | オンライン | |
| 2026/7/14 | 半導体パッケージの作製プロセスとその課題および最新技術動向 | オンライン | |
| 2026/7/15 | 半導体・パワーデバイスの高発熱化に対応する沸騰冷却技術の基礎と設計・適用のポイント | オンライン | |
| 2026/7/16 | 銀焼結接合によるパワーデバイス実装の界面制御と信頼性設計 | オンライン | |
| 2026/7/16 | 半導体配線・パッケージング向け銅めっき技術の理解と制御ポイント | オンライン | |
| 2026/7/16 | シリコン/パワー半導体へのCMP技術の適用 | オンライン | |
| 2026/7/16 | 半導体・パワーデバイスの高発熱化に対応する沸騰冷却技術の基礎と設計・適用のポイント | オンライン | |
| 2026/7/16 | ALD (原子層堆積法) の基礎と高品質膜化および最新動向 | オンライン | |
| 2026/7/17 | 感光性レジスト材料の設計、評価技術と先端半導体後工程の最新動向 | オンライン | |
| 2026/7/17 | 半導体配線・パッケージング向け銅めっき技術の理解と制御ポイント | オンライン | |
| 2026/7/17 | パワーデバイスの結晶欠陥評価技術とその動向 | オンライン |
| 発行年月 | |
|---|---|
| 2014/10/31 | 炭化ケイ素半導体 技術開発実態分析調査報告書 (CD-ROM版) |
| 2014/10/31 | 炭化ケイ素半導体 技術開発実態分析調査報告書 |
| 2013/12/15 | パワー半導体 技術開発実態分析調査報告書 (CD-ROM版) |
| 2013/12/15 | パワー半導体 技術開発実態分析調査報告書 |
| 2013/2/10 | 酸化物半導体 技術開発実態分析調査報告書 |
| 2013/2/10 | 酸化物半導体 技術開発実態分析調査報告書 (CD-ROM版) |
| 2012/6/15 | 半導体・液晶パネル製造装置9社 技術開発実態分析調査報告書 (CD-ROM版) |
| 2012/6/15 | 半導体・液晶パネル製造装置9社 技術開発実態分析調査報告書 |
| 2012/4/15 | Intel 【米国特許版】 技術開発実態分析調査報告書 |
| 2011/11/15 | 半導体露光装置 技術開発実態分析調査報告書 |
| 2010/6/5 | 半導体技術10社 技術開発実態分析調査報告書 |
| 2008/9/1 | 半導体製造用炭化ケイ素 技術開発実態分析調査報告書 |
| 2008/9/1 | 半導体製造用炭化ケイ素 技術開発実態分析調査報告書 (PDF版) |
| 1999/10/29 | DRAM混載システムLSI技術 |
| 1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |
| 1990/6/1 | LSI周辺金属材料・技術 |
| 1988/10/1 | 高密度表面実装 (SMT) におけるLSIパッケージング技術 |
| 1988/2/1 | 半導体の故障モードと加速試験 |
| 1985/12/1 | アナログIC/LSIパターン設計 (Ⅰ) |
| 1985/11/1 | アナログIC/LSIパターン設計 (Ⅱ) |