技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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本セミナーは、XPSの原理と特徴、XPSの観察対象、XPS測定とデータ解析、XPS測定装置、XPSの最近動向について詳解いたします。
表面分析では化学組成・化学結合状態 (表面にどのような原子があるか) 、原子配列・結晶構造 (それらの原子がどのように配列しているか) 、電子状態 (化学組成と原子配列が決まれば電子状態・物性が決定) 、表面形態 (マクロ・ミクロな形態が機能を支配) の情報を相補的に得ることが有用である。そのために電子/イオン/光などをプローブとする数百種類の表面分析方法が開発されている。その中でX線光電子分光法は単原子層の表面感度で化学結合状態を解析できる優れた手法である。その有用性は多くの分野で実証され、大学での基礎研究だけでなく、会社の開発現場でも多用されている。
しかし、会社だけでなく大学においても光電子スペクトルから十分な情報が取り出されていないのが現状である。この問題の解決のためにはX線光電子分光法の基礎 (始状態、終状態、測定装置の応答関数) を深く理解するだけでなく、測定装置の原理を適切に理解することも信頼性の高いデータを迅速に得るために必要である。データ解析について幾つかの例を紹介し、定量解析を紹介する。最先端X線光電子分光法および高輝度放射光施設の動向を紹介し、X線光電子分光法の新たな可能性について説明する。
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開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
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発行年月 | |
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2014/8/25 | ぬれ性のメカニズムと測定・制御技術 |
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