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パワー半導体デバイス、キャパシタの信頼性評価と寿命診断技術

パワー半導体デバイス、キャパシタの信頼性評価と寿命診断技術

オンライン 開催

開催日

  • 2024年4月2日(火) 10時30分 16時30分

プログラム

 本講演では、パワーエレクトロニクスの信頼性に当たる基礎的な内容を網羅しつつ、パワー半導体デバイスの信頼性評価の一例として、研究室で取り組んでいる、ノイズ誤点呼メカニズムと試験方法について解説するとともに、寿命診断技術についても紹介する。
 加えてパワーエレクトロニクスを構成する受動部品であるキャパシタの信頼性評価技術についても解説する。

  1. パワーエレクトロニクスの基礎
    1. パワーエレクトロニクスの技術発展
      1. 電動機可変速駆動の歴史
      2. パワー半導体デバイスの歴史
    2. 回路方式とアプリケーション
      1. 構成部品と回路構成
      2. アプリケーション
  2. パワー半導体デバイスの信頼性
    1. パワー半導体デバイスの基礎
      1. パワー半導体の分類と構造
      2. 熱回路設計
    2. ノイズ誤点呼メカニズムとその試験方法
      1. インバータ動作とパワー半導体デバイス
      2. 寄生パラメータ分析
      3. ダイオード逆回復電流の影響
      4. IGBT内部電位を考慮したノイズ試験手法
    3. 寿命診断技術
      1. サーマルリサイクルによる劣化
      2. Vce (sat) モニタリングによる寿命診断
  3. キャパシタの信頼性
    1. キャパシタの基礎
      1. 各種キャパシタの構造と特長
      2. インバータにおける直流リンクキャパシタ
    2. 損失測定技術
      1. 矩形波条件下の損失推定
      2. カロリー法を用いた測定手法
    3. コンディションモニタリング
      1. 加速試験によるキャパシタ寿命予測
      2. ESR/キャパシタンスの独立モニタリング手法
      3. 電流センサレス・モニタリング
    • 質疑応答

講師

  • 長谷川 一徳
    九州工業大学 大学院 工学研究院 電気電子工学研究系
    准教授

主催

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1名様
: 50,000円 (税別) / 55,000円 (税込)
複数名
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  • 公設試験研究機関。地方公共団体に置かれる試験所、研究センター、技術センターなどの機関で、試験研究および企業支援に関する業務に従事する方
  • 支払名義が企業の場合は対象外とさせていただきます。
  • 企業に属し、大学、公的機関に派遣または出向されている方は対象外とさせていただきます。

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