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半導体後工程におけるパッケージング、実装技術

半導体後工程におけるパッケージング、実装技術

～2.5D/3Dパッケージ、ハイブリッドボンディングなど最新動向を解説～
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概要

本セミナーでは、半導体後工程の基礎・各プロセスの技術から注目の2.5D/3Dパッケージングとチップレット技術について、開発当時の失敗や苦労、得られた代表的な知見などを講師の経験も踏まえて解説いたします。

開催日

  • 2024年3月19日(火) 10時30分 ～ 16時30分

修得知識

  • 半導体パッケージに対する基礎的な理解
  • 半導体製造プロセスの概要 (主にパッケージングプロセス)
  • 半導体パッケージング技術・封止技術とその実際
  • 評価技術、解析技術の実際
  • 2.5D/3Dパッケージングとチップレットについて

プログラム

　半導体業界は今、コロナ禍による半導体不足が発端となって、それまでは単なる部品だったものが、経済の安全保障のキーパーツの一つになりました。アメリカと中国の半導体覇権をめぐって激化する一方で半導体の先端テクノロジは2ナノメートルというこれまでとは別次元を目指しています。しかし、多くの半導体は最先端のテクノロジを必要としていない方が大半です。最先端のデバイスではトータル性能をより向上させるために機能別に色々なチップを集めて実装するチップレットの技術開発に向かっている状況にあります。
　本セミナーでは半導体後工程の基礎・基本的なパッケージングの各プロセスの技術と開発当時の失敗や苦労、得られた代表的な知見などを講師の経験も踏まえて解説します。また、注目の2.5D/3Dパッケージングとチップレット技術についても紹介します。

  1. 半導体パッケージの基礎〜パッケージの進化・発展経緯〜
    1. 始まりはSIPとDIP、プリント板の技術進化に伴いパッケージ形態が多様化
    2. THD (スルーホールデバイス) とSMD (表面実装デバイス)
    3. セラミックスパッケージとプラスチック (リードフレーム) パッケージとプリント板パッケージ
  2. パッケージングプロセス (代表例)
    1. セラミックスパッケージのパッケージングプロセス
    2. プラスチック (リードフレーム) パッケージのパッケージングプロセス
    3. プリント板パッケージのパッケージングプロセス
  3. 各製造工程 (プロセス) の技術とキーポイント
    1. 前工程
      1. BG (バックグラインド) とダイシング
      2. DB (ダイボンド)
      3. WB (ワイヤーボンド)
    2. 封止・モールド工程
      1. SL (封止:セラミックパッケージの場合)
      2. モールド
      3. ポッティング (COBの場合)
    3. 後工程
      1. 外装メッキ
      2. 切断整形
      3. ボール付け
      4. シンギュレーション
      5. 捺印
      6. リーク試験 (セラミックスパッケージ)
    4. バンプ・FC (フリップチップ) パッケージの工程
      1. 再配線・ウェーハバンプ
      2. FC (フリップチップ)
      3. UF (アンダーフィル)
    5. 試験工程とそのキーポイン
      1. 代表的な試験工程
      2. BI (バーンイン) 工程
      3. 外観検査 (リードスキャン) 工程
    6. 梱包工程とそのキーポイント
      1. ベーキング
      2. トレイ梱包
      3. テーピング梱包
  4. 過去に経験した不具合
    1. チップクラック
    2. ワイヤー断線
    3. パッケージが膨れる・割れる
    4. 実装後、パッケージが剥がれる
    5. BGAのボールが落ちる・破断する
  5. 試作・開発時の評価、解析手法の例
    1. とにかく破壊試験と強度確認
    2. MSL (吸湿・リフロー試験)
    3. 機械的試験と温度サイクル試験
    4. SAT (超音波探傷) 、XRAY (CT) 、シャドウモアレ
    5. 開封、研磨、そして観察
    6. ガイドラインはJEITAとJEDEC
  6. RoHS、グリーン対応
    1. 鉛フリー対応
    2. 樹脂の難燃材改良
    3. 梱包材の脱PVC、エンドプラグゴムの鉛廃止、印刷インク
    4. 生成分解プラスチックの開発
  7. 今後の2.5D/3Dパッケージとチップレット技術
    1. 2.5Dパッケージ
    2. 3Dパッケージ
    3. ハイブリッドボンディング
    4. 製造のキーはチップとインターポーザー間接合とTSV
    5. 基板とインターポーザーの進化が未来を決める
    • 質疑応答
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講師

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主催

株式会社 技術情報協会
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複数名
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  • 公設試験研究機関。地方公共団体に置かれる試験所、研究センター、技術センターなどの機関で、試験研究および企業支援に関する業務に従事する方
  • 支払名義が企業の場合は対象外とさせていただきます。
  • 企業に属し、大学、公的機関に派遣または出向されている方は対象外とさせていただきます。

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  • 開催日前に、接続先URL、ミーティングID​、パスワードを別途ご連絡いたします。
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    万が一、部外者が侵入した場合は管理者側で部外者の退出あるいはセミナーを終了いたします。
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