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トラブル未然防止のための信頼性試験法と耐用寿命予測の実際

電子機器における

トラブル未然防止のための信頼性試験法と耐用寿命予測の実際

東京都 開催

開催日

  • 2019年9月4日(水) 11時00分 17時00分

プログラム

 近年、電子応用商品には小型化・省エネ化を目指して搭載部品レベルでも微細加工した部品や超薄型部品が搭載されています。一方、微細加工や薄膜素材の積層などでパターン間や素材間の電界強度が大きくなるため、市場でのトラブル増加が懸念されます。そこで、これらのトラブルをなくすために設計段階からFMEA・FMEAや製品の信頼性試験などを用いて不良ゼロを目指した活動がなされています。ところが、経済産業省やNITEなどに掲載のトラブル情報をみてみると、電子機器の市場トラブルはゼロになっているわけではありません。
 そこで、本セミナーではこれらの市場トラブルを少しでも少なくするために、信頼性の基礎知識から信頼性加速試験の設定の仕方、特にサンプルサイズと加速試験条件・試験時間の関係を詳細に紹介します。具体的には、まず市場トラブルがなぜ発生するのかその対応の仕方を紹介し、市場の故障は時間経過によってどのように変化していくかを紹介します。次に故障時間を早く知るために、温度や湿度、温度差や振動など様々な市場ストレスに対応する加速試験モデルを紹介していきます。その結果、自社製品が市場使用環境で使われた期間に対する累積の故障確率を予測でき、また、その故障時間を製品の寿命目標値まで低減するための施策を提案できるようになります。

  1. 電子機器の市場における短寿命トラブル事例
  2. 信頼性評価に用いる用語と信頼性の基礎
    1. 信頼性用語の意味・定義
    2. 市場故障数と故障時間の関係
  3. 電子機器の信頼性を見極めるための試験法
    1. 初期故障を低減するためのスクリーニング条件設定例
    2. 偶発故障を推定するための試験時間とサンプルサイズ設定例
  4. 耐用寿命を見極めるための具体的な加速試験
    1. 寿命予測に用いる加速モデルと信頼性試験
    2. 温度と故障時間の関係:アレニウスモデルの適用
    3. 温湿度と故障時間の関係:アイリングモデルの適用
    4. 温度差と故障時間の関係:修正コフィン・マンソンモデルの適用
    5. 振動 (加速度) と故障時間の関係:べき乗則の適用
  5. 加速試験による耐用寿命予測の実際
    1. 耐用寿命推定のプロセス
    2. 加速試験による市場での寿命推定事例

講師

  • 本山 晃
    M.A 信頼性技術オフィス
    代表

会場

株式会社オーム社 オームセミナー室
東京都 千代田区 神田錦町3-1
株式会社オーム社 オームセミナー室の地図

主催

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お問い合わせ

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受講料

1名様
: 47,000円 (税別) / 50,760円 (税込)
1口
: 57,000円 (税別) / 61,560円 (税込) (3名まで受講可)
本セミナーは終了いたしました。

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