技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー

分子間力や表面張力の考え方、 そのコントロールと測定法

ぬれ性やコーティング、分散混合など色々な技術に応用できる

分子間力や表面張力の考え方、 そのコントロールと測定法

東京都 開催 会場 開催

開催日

  • 2019年8月6日(火) 10時00分 17時00分

プログラム

第1部 分子間力・表面張力の基本的な考え方、基礎知識

 物質の表面に存在するエネルギーと作用力の基礎について解説する。これらは、付着・濡れ、摩擦・摩耗などの現象としてサンプルや製品上で発現する。分子間力の起源には、双極子相互作用をベースに考察し、ドライ中、溶液中、気液界面に注目して解説する。

  1. 物質表面で作用する力
    1. 双極子間相互作用 (分子振動、R-Jポテンシャル)
    2. 粒子間相互作用 (Derjaguin近似)
    3. 帯電効果 (クーロン相互作用)
    4. 表面張力と粘性 (濡れ性の支配要因)
  2. ドライ・真空中での相互作用
    1. 表面エネルギー (表面での仕事J/m2とは)
    2. 形状サイズ効果 (表面積支配とは)
    3. 分散・極性相互作用 (Fowksの式)
  3. 液中・気液界面での相互作用
    1. 濡れ・Youngの式 (濡れの基本式とは)
    2. ピンニング効果 (濡れの支配要因)
    3. ゼータ電位、DLVO理論 (液中での分散凝集)
    • 質疑応答

第2部 分子間力・表面張力をコントロールする技術とその応用

 分子間力のコントロールには、表面エネルギー (張力) をベースに考察することが有効である。実際の応用例として、濡れ・気泡制御、コーティング技術、付着・剥離技術に注目して解説する。

  1. 濡れ・気泡制御
    1. 接触角測定の基礎 (高精度測定のために)
    2. 付着濡れと拡張濡れ (界面現象への応用)
    3. ファインバブル (気泡の合一と溶解)
    4. 超音波制御 (洗浄、バブル制御)
  2. コーティング技術
    1. 塗工液・塗工装置 (濡れ要因、SP値)
    2. 乾燥機構・装置 (乾燥の3要素とは)
    3. インクジェット (微小液滴の制御)
    4. 塗布・乾燥欠陥対策 (ピンホール・乾燥むらetc.)
  3. 付着・剥離技術
    1. 付着・剥離要因 (相互作用引力と応力ひずみ)
    2. 付着・剥離試験 (剥離試験、応力解析)
    3. 表面処理と界面活性剤 (親水化、疎水化、官能基制御)
    • 質疑応答

第3部 (1) 分子間力・表面張力の測定方法とのその応用

 原子間力顕微鏡 (AFM) の原理、最適化ノウハウに注目し、多くの事例を紹介する。

  1. AFMの事例
    1. AFMの基本構成 (原理を理解する)
    2. 測定の高精度化 (ノウハウ伝授)
    3. 付着力解析 (DPAT法)
    4. 応用事例 (幅広い応用分野)
    • 質疑応答

第3部 (2) 分子間力・表面張力の 測定方法とその応用-表面張力・界面張力測定を中心に –

(2019年8月6日 14:45〜15:45)

 ぬれ、表面張力、界面張力を測定する計測器について、一般的な測定装置と特殊なサンプルを測定する目的で開発された機器やオプションを、その特徴とアプリケーションを交えて解説する。

  1. ぬれ性を測定する装置の紹介
    1. 接触角測定
    2. 動的接触角測定
    3. 表面自由エネルギについて
  2. 表面張力を測定する装置の紹介
    1. 静的表面張力測定
    2. 動的表面張力測定
  3. 界面張力を測定する
    1. スピニングドロップ法
    2. ペンダントドロップ法
    • 質疑応答

第3部 (3) 分子間力・表面張力の 測定方法とその応用-ゼータ電位測定を中心に –

(2019年8月6日 16:00〜17:00)

 溶液に分散するコロイド粒子の安定性や表面状態を評価する指標として、ゼータ電位測定は広く利用されている。光散乱技術を用いてゼータ電位を求める電気泳動光散乱法の原理とそのアプリケーションについて解説する。

  1. ゼータ電位の基礎知識
  2. 光散乱について
    1. 光散乱とは
    2. 身近な光散乱について
  3. 各種ゼータ電子測定機器のご紹介
  4. 電気泳動光散乱の原理について
    1. 原理について
    2. ゼータ電位の測定に大切な「レーザードップラー法」とは?
    3. アプリケーション (測定例) のご紹介
    • 質疑応答

講師

  • 河合 晃
    長岡技術科学大学
    名誉教授
  • 新井 武彦
    英弘精機 株式会社 テクニカルセンター
    副センター長
  • 白石 優太
    大塚電子 株式会社 計測粒子事業部 粒子物性ユニット 分析グループ

会場

株式会社 技術情報協会
東京都 品川区 西五反田2-29-5 日幸五反田ビル8F
株式会社 技術情報協会の地図

主催

お支払い方法、キャンセルの可否は、必ずお申し込み前にご確認をお願いいたします。

お問い合わせ

本セミナーに関するお問い合わせは tech-seminar.jpのお問い合わせからお願いいたします。
(主催者への直接のお問い合わせはご遠慮くださいませ。)

受講料

1名様
: 55,000円 (税別) / 59,400円 (税込)
複数名
: 50,000円 (税別) / 54,000円 (税込)

複数名同時受講割引について

  • 2名様以上でお申込みの場合、
    1名あたり 50,000円(税別) / 54,000円(税込) で受講いただけます。
    • 1名様でお申し込みの場合 : 1名で 55,000円(税別) / 59,400円(税込)
    • 2名様でお申し込みの場合 : 2名で 100,000円(税別) / 108,000円(税込)
    • 3名様でお申し込みの場合 : 3名で 150,000円(税別) / 162,000円(税込)
  • 同一法人内による複数名同時申込みのみ適用いたします。
  • 受講券、請求書は、代表者にご郵送いたします。
  • 他の割引は併用できません。
本セミナーは終了いたしました。

関連する出版物