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ナノ触診原子間力顕微鏡 (AFM) による高分子材料の解析技術

ナノ触診原子間力顕微鏡 (AFM) による高分子材料の解析技術

東京都 開催 会場 開催
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開催日

  • 2018年6月20日(水) 12時30分 ～ 16時30分

受講対象者

  • 原子間力顕微鏡 (AFM) を日常的に使っている方
  • 原子間力顕微鏡 (AFM) の像解釈に悩んでいる方
  • これからAFMを使う方

修得知識

  • 原子間力顕微鏡 (AFM) の基礎知識
  • AFM位相像の正しい解釈方法
  • ナノスケール力学物性評価の手順
  • ポリマーアロイ・ブレンド・コンポジット
  • ゴム・エラストマーなどの実例

プログラム

　原子間力顕微鏡 (AFM) はいまや材料研究にとってかかせないツールです。高分解能性にその理由がありますが、さらにその原理上、画像取得の際に表面と接触して力を及ぼしあうという特徴をもつため、医師が指で触診するのと同じようにAFM探針で試料表面のさまざまな力学物性測定を行うことができます。これがナノ触診AFMです。
　本セミナーでは、AFMの原理から始め、ナノ触診AFMの基礎と応用について解説します。さらに動的特性として、損失正接画像や粘度像などが取得できる粘弾性解析の新展開についても時間を割く予定です。AFMで力学物性解析を行いたい方もしくは高分子ナノアロイ、ナノコンポジットを研究・開発の対象としていてAFMに興味をお持ちの方の参加をお待ちしております。

  1. 原子間力顕微鏡 (AFM) の基礎
    1. AFMの原理
    2. フォースカーブ
    3. タッピングモードAFMの原理
    4. 位相像とエネルギー散逸
  2. ナノ触診AFMの基礎
    1. 接触理論概観
    2. 弾性率像を取得するための手順
    3. 国際標準化動向
  3. ナノ触診AFMの応用
    1. ゴムへの応用
    2. 高分子ナノアロイ、ナノコンポジットへの応用
    3. ブロックコポリマー、TPEへの応用
    4. その他 (国家プロジェクト進捗情報など)
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会場

江東区役所 商工情報センター (カメリアプラザ)

9F 会議室

東京都 江東区 亀戸2-19-1
江東区役所 商工情報センター (カメリアプラザ)の地図
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主催

株式会社 R&D支援センター
お支払い方法、キャンセルの可否は、必ずお申し込み前にご確認をお願いいたします。

お問い合わせ

本セミナーに関するお問い合わせは tech-seminar.jpのお問い合わせからお願いいたします。
(主催者への直接のお問い合わせはご遠慮くださいませ。)

受講料

1名様
: 46,278円 (税別) / 49,980円 (税込)

案内割引・複数名同時申込割引について

R&D支援センターからの案内登録をご希望の方は、割引特典を受けられます。
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  • R&D支援センターからの案内を希望する方
    • 1名様でお申し込みの場合 : 1名で 43,750円(税別) / 47,250円(税込)
    • 2名様でお申し込みの場合 : 2名で 46,278円(税別) / 49,980円(税込)
    • 3名様でお申し込みの場合 : 3名で 69,417円(税別) / 74,970円(税込)
  • R&D支援センターからの案内を希望しない方
    • 1名様でお申し込みの場合 : 1名で 46,278円(税別) / 49,980円(税込)
    • 2名様でお申し込みの場合 : 2名で 92,556円(税別) / 99,960円(税込)
    • 3名様でお申し込みの場合 : 3名で 138,833円(税別) / 149,940円(税込)
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