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赤外線光学系の設計と評価

赤外線光学系の設計と評価

東京都 開催 会場 開催

開催日

  • 2016年10月27日(木) 10時30分 16時30分

受講対象者

  • 赤外線センサ、赤外線カメラ及び関連部材の研究開発に携わる方
  • 赤外線用レンズ・及び光学系に関する情報を得たい方 など

修得知識

  • 赤外線の光学設計に関する基礎知識

プログラム

 近年、赤外線センサ・赤外線カメラの利用の拡大とともに、関連の製品開発も各企業において盛んになってきている。しかしその反面、赤外線の光学系・レンズ設計についてお困りの方が多く、開発の妨げとなっているケースも見受けられる。
 本セミナーでは、このような赤外線光学系の評価及び、赤外線用レンズの特徴等、主として赤外線光学系の設計にかかわる基礎的な内容について講義する。

  1. 赤外の基礎
    1. 放射体
    2. 大気透過率
    3. レンズの透過率
    4. コート
    5. 赤外線検出器
  2. 光学の基礎
    1. レンズ方程式
    2. 絞りと瞳
    3. 光学の方程式
    4. 光学性能の基準
    5. 光学収差
  3. 赤外領域での特殊なこと
    1. 材料
    2. 熱補正
    3. コールド絞り
    4. ナルシサス
  4. 赤外線用の光学設計
    1. レンズタイプ
    2. 設計手法例
    3. 評価例
  5. まとめ

講師

  • 小野 賢治
    有限会社 船橋光学設計事務所
    代表

会場

ちよだプラットフォームスクウェア
東京都 千代田区 神田錦町3-21
ちよだプラットフォームスクウェアの地図

主催

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お問い合わせ

本セミナーに関するお問い合わせは tech-seminar.jpのお問い合わせからお願いいたします。
(主催者への直接のお問い合わせはご遠慮くださいませ。)

受講料

1名様
: 46,000円 (税別) / 49,680円 (税込)
1口
: 57,000円 (税別) / 61,560円 (税込) (3名まで受講可)
本セミナーは終了いたしました。

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