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「電子機器・部品・材料の腐食・劣化の評価技術と対策技術」の関連セミナー・出版物

これから開催される関連セミナー

開始日時 会場 開催方法
2026/1/22 実装状態での電子部品・基板の品質不具合に対する故障解析力・解決力の向上 オンライン
2026/1/22 電子部品の特性とノウハウ (2日間) オンライン
2026/1/22 電子部品の特性とノウハウ (1) オンライン
2026/1/27 積層セラミックコンデンサの故障メカニズム、解析事例と品質向上 オンライン
2026/1/27 電子部品の特性とノウハウ (2) オンライン
2026/1/28 金属腐食の発生・進展メカニズムと評価試験方法・腐食予防技術 オンライン
2026/1/30 半導体・回路素子における劣化寿命の故障モード・構造因子とその予測法 東京都 会場・オンライン
2026/2/4 電子機器における防水設計の基礎と設計手法 (3日間) オンライン
2026/2/4 AIデータセンターにおける冷却技術の最新動向 オンライン
2026/2/4 電子機器における防水設計の基礎と設計手法 (初級編) オンライン
2026/2/5 高分子の (黄変・ピンク変など) 変色・劣化の発生メカニズム、変色箇所の評価、その対策 オンライン
2026/2/5 金属材料の破壊メカニズムと破面の見方、解析法 オンライン
2026/2/5 電子機器における防水設計の基礎と設計手法 (中級編) オンライン
2026/2/6 ステンレス鋼の基礎知識、選択方法と使い方ならびに腐食対策 東京都 会場・オンライン
2026/2/6 電子機器における防水設計の基礎と設計手法 (上級編) オンライン
2026/2/9 実装状態での電子部品・基板の品質不具合に対する故障解析力・解決力の向上 オンライン
2026/2/9 電子機器における防水設計の基礎と設計手法 (中級編) オンライン
2026/2/9 電子機器における防水設計の基礎と設計手法 (3日間) オンライン
2026/2/9 電子機器における防水設計の基礎と設計手法 (初級編) オンライン
2026/2/9 電子機器における防水設計の基礎と設計手法 (上級編) オンライン
2026/2/10 液冷、液浸冷却システムの導入と運用、課題 オンライン
2026/2/13 金属腐食の発生・進展メカニズムと評価試験方法・腐食予防技術 オンライン
2026/2/17 海水腐食の基礎・原因とその対策技術 東京都 会場・オンライン
2026/2/17 TIM (サーマルインターフェースマテリアル) の選定、活用方法と各種機器での使われ方 オンライン
2026/2/17 金属材料の破壊メカニズムと破面の見方、解析法 オンライン
2026/2/19 民生用電子部品の宇宙ビジネスへの転用と評価技術 オンライン
2026/2/20 電子機器におけるさまざまな放熱方法とその効果 オンライン
2026/2/24 電子機器におけるさまざまな放熱方法とその効果 オンライン
2026/2/24 電子機器のノイズ対策と基板設計の基礎・実践 オンライン
2026/2/25 電子機器のノイズ対策と基板設計の基礎・実践 オンライン

関連する出版物

発行年月
2014/1/25 京セラ〔2014年版〕 技術開発実態分析調査報告書 (CD-ROM版)
2013/11/25 電子ブック〔2013年版〕 技術開発実態分析調査報告書 (CD-ROM版)
2013/11/25 電子ブック〔2013年版〕 技術開発実態分析調査報告書
2012/11/1 触媒の劣化メカニズムと対策および加速寿命試験方法
2012/5/20 エレクトロニクス分野へのダイヤモンド応用技術 技術開発実態分析調査報告書
2012/5/20 エレクトロニクス分野へのダイヤモンド応用技術 技術開発実態分析調査報告書 (CD-ROM版)
2012/3/10 中堅電子部品12社 技術開発実態分析調査報告書
2011/10/5 電子部品大手8社 技術開発実態分析調査報告書
2011/10/3 '12 コンデンサ業界の実態と将来展望
2010/10/1 '11 コンデンサ業界の実態と将来展望
2009/6/25 携帯端末 技術開発実態分析調査報告書 (PDF版)
2009/6/25 携帯端末 技術開発実態分析調査報告書
2009/5/20 日本電気と富士通2社分析 技術開発実態分析調査報告書 (PDF版)
2009/5/20 日本電気と富士通2社分析 技術開発実態分析調査報告書
2006/6/16 電気・電子機器の振動と温・湿度複合環境試験
1998/6/15 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術
1987/8/1 機構部品の故障現象と加速試験
1986/12/1 耐ノイズ機器実装設計技術
1985/10/1 電子部品・電子装置の環境信頼性試験