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AFM (Atomic Force Microscope / 原子間力顕微鏡)のセミナー・研修・出版物
原子間力顕微鏡 (AFM) の基本原理、測定とデータの取得・解析方法
2018年7月13日(金) 10時30分
～
16時30分
東京都 開催
会場 開催
本セミナーでは、汎用性の高い大気中および液中測定用のAFMについて、豊富なデータに基づき解説いたします。
装置の基本原理や操作方法、データの取得や解析方法まで解説いたします。
また、日頃のトラブル対策や技術開発相談にも対応いたします。
電子顕微鏡〔2025年版〕技術開発実態分析調査報告書 (CD-ROM版)
本調査報告書は、「電子顕微鏡」に関するパテントマップ、パテントチャートを作成し、技術開発動向、最近の注目技術など具体的なデータを提供しております。
電子顕微鏡 技術開発実態分析調査報告書の書籍版 もご用意しております。
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