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原子間力顕微鏡 (AFM) の基本原理、測定とそのノウハウ、データの取得・解析方法

原子間力顕微鏡 (AFM) の基本原理、測定とそのノウハウ、データの取得・解析方法

~AFMの基本理解および有効活用に向けて~
東京都 開催 会場 開催 個別相談付き

概要

本セミナーでは、汎用性の高い大気中および液中測定用のAFMについて、豊富なデータに基づき解説いたします。
装置の基本原理や操作方法、データの取得や解析方法まで解説いたします。
また、日頃のトラブル対策や技術開発相談にも対応いたします。

開催日

  • 2019年7月23日(火) 10時30分 16時30分

受講対象者

  • AFMによる材料測定業務に携わっている方
  • AFMを初めて利用する方
  • AFMの導入を検討されている方
  • AFMの幅広い分野での利用を希望される方
  • AFMの性能をさらに有効活用したいとお考えの方

修得知識

  • AFMの基礎と基本原理
  • AFMを使用する上でのノウハウ
  • AFMを用いた材料および表面科学の手法

プログラム

 「ナノテクノロジーの目」とも言われているAFM (原子間力顕微鏡) は、SEMなどと同様に一般化しつつあり、また小型で安価なことから企業の基礎開発部門に多く導入されるようになってきました。AFMを用いれば、試料表面の諸性質 (硬さ、導電性、帯電性、加工、相互作用力、付着性など) 、微粒子やレジストパターンなどの微小固体の諸性質 (付着性、マニピュレーション、帯電性) 、各種コーティング、特殊測定 (液滴形状、ナノバブル観察) など、幅広い解析が効果的に行えます。しかしながら、実際に実用的なAFM測定を行うためには、基本原理や測定方法、そして解析方法などの基礎を習得する必要があります。その結果、測定がうまくいかない場合には、原因が分からないため、利用範囲も形状観察程度に留まっているケースが多く見受けられます。
 本セミナーでは、汎用性の高い大気中および液中測定用のAFMを中心に豊富なデータに基づき解説します。これからAFMの導入を検討される方、初めてAFMを操作される方にも分かりやすく装置の基本原理や操作方法、データの取得や解析方法についてまで解説します。また、日頃のトラブル対策や技術開発相談にも対応します。

  1. (基礎編) AFMの適切な利用法
    ~原理・基礎知識から測定・解析上の留意点まで~
    • AFMでできること・できないこと
      ~電子顕微鏡ではわからなくてもAFMでわかること~
    • AFMの基礎・原理
      ~AFMの基本構成・動作モード等~
    • 表面像の取得方法
      ~得られた像は、実像なのか?~
    • 原子分解能の機構
      ~表面粗さ計・ナノインデンターと何が違うのか~
    • ナノスケールの寸法校正
      ~原子配列の観察~
    • カンチレバーと探針の特徴
      ~どのようにして選ぶのか~
    • 探針のメンテナンス方法
      ~汚染と摩耗~
    • 原子間の相互作用力とは
      ~ポテンシャル曲線~
    • 表面の吸着水の影響
      ~相互作用力の湿度依存性~
    • フォースカーブの理解
      ~針と試料表面との接触~
    • サンプルの表面粗さ依存性
      ~探針の吸着力と摩擦力~
    • サンプルの非接触変形
      ~相互作用力による自発変形~
    • AFM測定の誤差要因
      ~精度の高い測定のために~
    • 液中での測定方法
      ~簡単なバージョンアップ~
    • 適切なAFMの選定方法
      ~用途に合った仕様・オプション設定とは~
  2. (応用編) AFMの有効な活用法
    ~様々な活用展開と分析・評価ノウハウ~
    • 表面エネルギーの測定
      ~表面処理との相関~
    • 表面吸着性の解析
      ~表面の経時変化
    • 薄膜及び微細パターンの付着性解析
      ~DPAT法~
    • 微細パターンの繰り返し疲労特性
      ~DPAT法~
    • 未知の表面間の付着力推定
      ~二乗平均則~
    • 微粒子の付着性/除去特性
      ~クリーンネス・印刷~
    • ナノペーストの凝集性
      ~焼成時の粒成長~
    • 微粒子の核成長と平坦性
      ~核生成理論~
    • 微小固体のヤング率測定
      ~高分子固体の凝集性解析~
    • 固体表面の硬さ測定
      ~薄膜の硬さや摩擦特性、表面硬化層の解析~
    • 固体表面の帯電制御
      ~帯電分布と除電性~
    • 微小液滴およびナノバブル観察
      ~識別方法~
    • 微小固体のナノマニピュレーション
      ~移動・加工と凝集性解析~
    • 質疑応答
    • 日頃の技術開発・トラブルの個別相談に応じます

講師

  • 河合 晃
    長岡技術科学大学 電気電子情報工学専攻 電子デバイス・フォトニクス工学講座
    教授

会場

品川区立総合区民会館 きゅりあん

5F 第4講習室

東京都 品川区 東大井5丁目18-1
品川区立総合区民会館 きゅりあんの地図

主催

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お問い合わせ

本セミナーに関するお問い合わせは tech-seminar.jpのお問い合わせからお願いいたします。
(主催者への直接のお問い合わせはご遠慮くださいませ。)

受講料

1名様
: 42,750円 (税別) / 46,170円 (税込)
複数名
: 22,500円 (税別) / 24,300円 (税込)

複数名同時受講の割引特典について

  • 2名様以上でお申込みの場合、
    1名あたり 22,500円(税別) / 24,300円(税込) で受講いただけます。
    • 1名様でお申し込みの場合 : 1名で 42,750円(税別) / 46,170円(税込)
    • 2名様でお申し込みの場合 : 2名で 45,000円(税別) / 48,600円(税込)
    • 3名様でお申し込みの場合 : 3名で 67,500円(税別) / 72,900円(税込)
  • 受講者全員が会員登録をしていただいた場合に限ります。
  • 同一法人内(グループ会社でも可)による複数名同時申込みのみ適用いたします。
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  • 請求書および領収書は1名様ごとに発行可能です。
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本セミナーは終了いたしました。