技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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本セミナーでは、外観検査の不良・見逃しの原因を「人の能力」ではなく「採用・教育・管理の仕組み」から解き明かします。
適性ある人材の見極め、初期教育、日常管理・定期訓練の具体策を実務ベースで解説いたします。
外観検査で不良や見逃しが発生すると、「注意不足」「経験不足」「個人差だから仕方がない」と片づけてしまっていませんか。
一方で、検査員に任せきりになり、どう管理し、どう教育すればよいのか分からないまま、なぜか同じ問題が繰り返される。そんな違和感を抱えている外観検査管理者の方も少なくありません。これまで数多くの製造現場を見てきた経験から言えるのは、外観検査の問題は「検査員の能力不足」よりも、「採用・教育・管理の仕組み」に原因があるケースが圧倒的に多いということです。誰を検査員にし、初期教育で何を教えるのか。習熟度をどう見極め、日常管理や定期訓練をどう実施するのか。ここが整理されていない限り、不良や見逃しは形を変えて再発します。
本セミナーでは、精神論や根性論ではなく、外観検査管理者が「どこを見て、何を判断すればよいのか」を実務ベースで解説します。外観検査を「不良を見つける作業」から、「不良を起こさせない仕組み」へ。明日から現場で何を変えるべきかを持ち帰っていただけるセミナーです。
複数名で同時に申込いただいた場合、1名様につき 30,000円(税別) / 33,000円(税込) で受講いただけます。
ライブ配信・アーカイブ配信受講の場合、別途テキストの送付先1件につき、配送料 1,100円(税別) / 1,210円(税込) を頂戴します。
| 開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
|---|---|---|---|
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| 2026/7/30 | 不良ゼロへのアプローチ | 東京都 | 会場・オンライン |
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| 2026/8/14 | 品質管理の基礎 (4) | オンライン | |
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| 2026/12/18 | 市場クレームとその影響、対応コストを考慮した損失関数による安全係数・検査基準・規格値の決定法 | オンライン |
| 発行年月 | |
|---|---|
| 1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |
| 1988/2/1 | 半導体の故障モードと加速試験 |
| 1987/8/1 | 機構部品の故障現象と加速試験 |
| 1985/10/1 | 電子部品・電子装置の環境信頼性試験 |