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抵抗率の正しい測定方法
入門
抵抗率の正しい測定方法
～機器・手法の理解、測定のポイント、データの解釈～
東京都 開催
会場 開催
本セミナーは終了いたしました。
開催日
- 2014年6月10日(火) 13時00分 ～ 16時45分
プログラム
- 抵抗と抵抗率
- 低抵抗領域の測定
- テスターで測ると何故不安定なのか?
- テスターでの測定はダメなのか?
- 4端子法と2端子法
- 接触抵抗とは?
- 4探針法とは?
- 4探針法と4端子法の違い
- 表面抵抗率と体積抵抗率の使い分け
- 傷が付き易い試料の測り方
- 低抵抗薄膜の抵抗率測定
- 高抵抗領域の測定
- 2重リング法とは?
- 表面抵抗率と体積抵抗率の測り方は違うのか?
- JIS K6911とは?
- ガード電極は必要か?
- 温度や湿度で抵抗値が変わるのか?
- 印加電圧や測定時間はどのように決めるのか?
- 高抵抗薄膜の測定
- 中間領域の試料は定電流印加法と定電圧印加法のどちらで測るか?
- 粉体の抵抗はどうやって測るか?
- フィルムの厚み方向の測定
- 高温や低温下での低抵抗測定は?
講師
会場
主催
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受講料
1名様
:
38,889円 (税別) / 42,000円 (税込)
複数名
:
28,889円 (税別) / 31,200円 (税込)
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- 1名 36,944円 (税別) / 39,900円 (税込)
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