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高分子製品の品質トラブル対策のためのブリード・変色・異物の分析と原因解析

高分子製品の品質トラブル対策のためのブリード・変色・異物の分析と原因解析

東京都 開催 会場 開催

概要

本セミナーでは、高分子製品の品質トラブルの中で、多発する問題のブリード・変色・異物に焦点をあて、各トラブルごとに対策を詳解いたします。

開催日

  • 2011年11月30日(水) 10時30分 16時30分

受講対象者

  • 高分子製品に関連する技術者、品質担当者
    • 自動車材料
    • 複合材料
    • 電気・電子材料
    • 包装 など
  • 高分子製品の品質で課題を抱えている方 (ブリード・変色・異物)

修得知識

  • 高分子製品の品質トラブルの基礎
  • 高分子製品の品質トラブルの分析
  • 高分子製品の品質トラブル対策
    • ブリード
    • 変色
    • 異物

プログラム

 高分子製品の品質トラブルは非常に多岐にわたっている。
 それらの中で、比較的、多発する問題で、かつ、原因解明には、物性解析よりは分析が有効な次の3項目を取り上げて、原因と分析法を説明する。

  • 添加剤のブリードやブルームの解析
    成形品中の添加剤が効果を発揮するために重要
  • 変色の問題:添加剤の構造変化およびポリマーの構造変化
  • 異物の分析
    ここでは範囲を拡大し、「汚染」 (たとえば異臭成分による汚染) も取り上げる

 どの項目も「微量分析」の要素があり、高性能な装置を使用すれば、比較的簡単に構造情報が得られることは否定できないが、最新鋭の装置の紹介よりは、普通の装置をいかに上手く使いこなすかについて力点を置く。

  1. 序論:
    高分子製品の品質トラブルの色々
  2. 添加剤のブリーディング・ブルーミングの解析
    1. 総論
      1. ブリーディング (ブリード) ・ブルーミング (ブルーム) とは
      2. 高分子製品の品質との関係
    2. 分析法の指針:
      ブリード物の分析に適した手法:種類と選択指針
      1. 主要な表面分析法の種類と特徴
      2. 元素情報を得たい場合
      3. 化合物情報を得たい場合
      4. 分子量情報を得たい場合
    3. ブリード物の分析法各論 (1) :
      基材ごと分析する方法
      1. 赤外分光法
      2. ラマン分光法
      3. X線光電子分光法 (XPS)
      4. 二次イオン質量分析法 (TOF-SIMS)
      5. MALDI TOF-MS
      6. その他:呈色法、接触角
    4. ブリード物の分析法各論 (2) :
      ブリード物の転写と赤外法の組合せ
      1. ATR法用プリズムへの転写
      2. その他の機械的転写:
        • こすり落とし法 (Johnson法)
        • その他
      3. 溶媒を用いる転写法:
        • 溶媒洗浄法
        • ピンポイント濃縮法
    5. ブリード物の分析法各論 (3) :
      ブリード物の転写とその他の分析法の組合せ
      1. 転写とマイクロ質量分析法 (μMS法) の組み合わせ
      2. 溶媒洗浄法と熱分解ガスクロ/質量分析 (PyGC/MS) の組み合わせ
    6. 定性する上での注意
      1. 添加剤の構造変化
      2. ブリード・ブルームに見えてそうでないもの
    7. ブリード物・ブルーム物の状態分析法
    8. ブリード速度 (拡散速度) の測定法
  3. 高分子製品の変色の問題:
    原因および分析法
    1. 発色成分の分析に適した分析手法
      1. 薄層クロマトグラフィー
      2. HPLC-PDA
      3. 共鳴ラマン分光
    2. 添加剤の構造変化に起因する変色の例
      1. 酸化防止剤の構造変化
      2. その他
    3. ポリマーの構造変化に起因する変色の例
      1. 劣化による変色
      2. その他
  4. 高分子製品の異物混入・汚染の問題:
    原因および分析法
    1. 異物・汚染の発生原因
      1. 重合工程での発生
      2. 成形工程での発生
      3. その他
    2. 異物 (汚染) の分析手法
      1. 顕微赤外分光
      2. 顕微ラマン分光
      3. その他:
        • TOF-SIMS
        • マイクロMS
      4. 前処理技術:
        • 切削
        • つまみ出し
        • 溶媒洗浄
    3. 異物の分析法の指針
      1. 表面の異物
      2. 内部の異物
      3. その他
      4. 異物分析のポイント:
        「化合物」から「物」の特定へ
    4. 典型的な異物の分析例
    5. ゲル、焼け樹脂の分析法
    6. 気泡 (ボイド、ブリスター) の分析法
    7. 異物類似の表面欠陥:
      • フィッシュアイ
      • デラミネーション
    8. 異臭成分による汚染
      1. 異臭成分の分析指針:
        ニオイ嗅ぎガスクロ
      2. 異臭成分の分析例
    9. 高分子製品による周囲の汚染
      1. 接触による汚染
      2. 非接触的汚染
  • 質疑応答・名刺交換

講師

  • 高山 森
    スペクトラ・フォーラム
    代表

会場

機械振興会館

地下3階 B3-6会議室

東京都 港区 芝公園3-5-8
機械振興会館の地図

主催

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お問い合わせ

本セミナーに関するお問い合わせは tech-seminar.jpのお問い合わせからお願いいたします。
(主催者への直接のお問い合わせはご遠慮くださいませ。)

受講料

1名様
: 45,000円 (税別) / 47,250円 (税込)
複数名
: 38,000円 (税別) / 39,900円 (税込)

複数名同時受講の割引特典について

  • 2名で参加の場合、1名につき 7,350円割引
  • 3名で参加の場合、1名につき 10,500円割引 (同一法人に限ります)
本セミナーは終了いたしました。

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