異物分析において重要なことは、迅速かつ簡便に原因を知り、異物クレームへ の対処や異物発生の抑制へとつなげることにあります。本講演では、目に見える数百μm~の異物を対象に、異物の収集方法やその際に確認すべき情報と提供すべき情報、FT-IRを使用した測定と解析方法、問題解決といった一連の流れを解説します。FT-IRを異物分析で活用すること、問題解決や解析において関係者間の情報が重要であることに焦点をあてたセミナーです。
　異物分析で最も使用頻度の高い装置であるFT-IRに焦点を当てて、FT-IRの基礎的な学習をし、実用性の高い本体のATR法を用いた測定方法中心にきれいなスペクトルを得るコツをお話します。さらに、異物分析で実際にFT-IRが使用できるように目的にあわせたスペクトル解析の解説を行います。
　なるべく多くの事例を用いて、問題解決までの一連の操作がご理解いただけるよう工夫しています。また、問題解決においては関係間のコミュニケーションがいかに大切さを解説していきます。

1. はじめに
   1. 本セミナーのポイント
   2. 大切な分析の視点
   3. 分析の目的
2. 異物の概要
   1. 異物とは何か
   2. 異物の種類
3. 異物の分析方法
   1. 異物分析で大切なこと
   2. 異物分析の手順
   3. 製造工程でわかること
   4. 観察でわかること
   5. 異物のサンプリング方法
   6. 現場でのサンプリング失敗例
   7. 異物の情報収集
   8. 分析装置を使わないでできる分析
   9. 問題解決に向けてのアプローチ
4. FT-IRを使用した異物分析
   1. 異物分析の中のFT-IR
   2. FT-IRの概要
      1. FT-IRでどんな情報が得られるのか
      2. FT-IR測定での約束事
   3. 異物でよく使用されるFT-IRの測定方法
   4. 異物の大きさと空間分解能
   5. 測定方法別のきれいなスペクトルを得るコツ
   6. FT-IR測定のためのサンプリングと前処理
   7. スペクトルの解析
      1. よく使われるスペクトルの処理とそれを使用した解析
      2. データベースをうまく使う
      3. 問題解決のための解析とは何か
5. FT-IR以外の分析装置
   1. SEM-EDS
   2. 蛍光X線
   3. GC、GC-MSおよびLC
6. 異物分析の事例
   1. 分散不良による異物分析
   2. 食品中の異物分析
   3. 劣化に起因した異物分析
   4. 歩留まり向上のための異物分析
   5. 原因探索実験によって起因物質を検証した異物分析
   6. 長期データ蓄積によって解決した異物分析
7. よくある質問
   1. サンプリングに関すること
   2. スペクトルに関すること
   3. その他
8. まとめ