技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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本セミナーでは、AEC-Q100に準拠した試験を実施する場合の留意点と、問題点、対応方法について概説いたします。また、TS16949, VDA6.3等、規格の車載用集積回路認定ガイドラインの動向と、各種信頼性試験の必要性と問題点について詳解いたします。
2023年に入って、ようやく落ち着きを取り戻しつつあるが、車載半導体の供給不足により新車納品が1年待ちなど、サプライチェーンの重要性が昨今注目されています。またEVの普及や安全保障の観点からも半導体の動向が注目されています。
車載用半導体の信頼性認定ガイドラインとしては、米国ビッグ3が中心になって策定されたAEC-Q100/101があります。AEC-Q100は、必要サンプル数の多さや試験時間の長さから評価コストが膨大になるという問題があります。 その一方で、日本発の車載認定ガイドラインとしてJEITA EDR-4708が2011年に発行され、2017年7月にIEC で国際標準化 (IEC 60749-43) され、現在はIEC 63827シリーズへ再編されました。
本セミナーでは、AEC-Q100に準拠した試験を実施する場合の留意点と、問題点、日本版のAEC-Q100規格EDR-4708について、使い方について詳細に説明します。 また、最近の話題として、EV用のパワー半導体が注目されており、特にSiCデバイスが普及期にありますが、信頼性の課題もあり、SiCデバイスの最近の話題につい説明致します。
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