技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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本セミナーでは、半導体パッケージ技術の基礎から、最新FOWLP技術について詳しく解説いたします。
いわゆる半導体前工程の世界では、微細化の物理的限界により、ムーアの法則の終焉が近づきつつありますが、パッケージ工程の世界では、FOWLP技術がiphone7に採用されるなど、次々と新しい技術が開発、製品化されています。半導体パッケージはDIPを原点とし、様々な形態に進化してきましたが、それは「高性能化」、「多機能化」、「小型化」の3つのキーワードに従ったものです。
本セミナーではパッケージ技術の進化を、これまでの技術の流れに沿って解説し、そのことにより、最新の方式であるFOWLPの目的、工程フロー、要素技術、将来の発展性などについてより深く理解していただきます。
| 開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
|---|---|---|---|
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| 2026/8/28 | 光容量分光法によるワイドギャップ半導体の欠陥準位評価 | オンライン | |
| 2026/8/31 | 半導体/AI/データセンターをめぐる輸出管理規制の動向と実務ポイント | オンライン | |
| 2026/8/31 | 光容量分光法によるワイドギャップ半導体の欠陥準位評価 | オンライン | |
| 2026/8/31 | ドライプロセス微細化の限界を突破するクライオプラズマエッチング | オンライン | |
| 2026/9/2 | ドライプロセス微細化の限界を突破するクライオプラズマエッチング | オンライン |
| 発行年月 | |
|---|---|
| 1985/11/1 | アナログIC/LSIパターン設計 (Ⅱ) |