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画像の対応付けの基礎とその高精度化

画像の対応付けの基礎とその高精度化

東京都 開催 会場 開催

開催日

  • 2017年3月17日(金) 12時30分 16時30分

プログラム

  1. はじめに
    1. 画像の対応付けとは
    2. 対応付けの用途による分類
  2. 対応付けの基礎
    1. 対応付けの原理
    2. コーナー検出器
    3. SSDとSAD
    4. キーポイントと特徴量
  3. 特徴量とその記述
    1. 特徴量とは
    2. HOG特徴量
    3. SIFT特徴量
    4. SURF特徴量
  4. 3次元復元のための対応付け
    1. エピ極線幾何
    2. ステレオ画像における対応付け
    3. RANSACによる対応付け
    4. 遠景シーンに対する対応付け
  5. パターン認識における対応付け
    1. 3次元復元との違い
    2. Visual Words
  6. 対応付けの高精度化
    1. 対応付けの限界
    2. 特殊な画像に対する高精度化
  7. おわりに

講師

  • 金澤 靖
    豊橋技術科学大学 情報・知能工学系
    准教授

会場

中央大学 駿河台記念館
東京都 千代田区 神田駿河台3丁目11−5
中央大学 駿河台記念館の地図

主催

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お問い合わせ

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受講料

1名様
: 43,000円 (税別) / 46,440円 (税込)
1口
: 56,000円 (税別) / 60,480円 (税込) (3名まで受講可)

割引特典について

  • 複数名 同時受講:
    1口 56,000円(税別) / 60,480円(税込) (3名まで受講可能)
本セミナーは終了いたしました。