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画像の対応付けの基礎とその高精度化

画像の対応付けの基礎とその高精度化

東京都 開催 会場 開催

開催日

  • 2016年10月21日(金) 12時30分16時30分

プログラム

  1. はじめに
    1. 画像の対応付けとは
    2. 対応付けの用途による分類
  2. 対応付けの基礎
    1. 対応付けの原理
    2. コーナー検出器
    3. SSDとSAD
    4. キーポイントと特徴量
  3. 特徴量とその記述
    1. 特徴量とは
    2. HOG特徴量
    3. SIFT特徴量
    4. SURF特徴量
  4. 3次元復元のための対応付け
    1. エピ極線幾何
    2. ステレオ画像における対応付け
    3. RANSACによる対応付け
    4. 遠景シーンに対する対応付け
  5. パターン認識における対応付け
    1. 3次元復元との違い
    2. Visual Words
  6. 対応付けの高精度化
    1. 対応付けの限界
    2. 特殊な画像に対する高精度化
  7. おわりに

講師

  • 金澤 靖
    豊橋技術科学大学 情報・知能工学系
    准教授

会場

株式会社オーム社 オームセミナー室
東京都 千代田区 神田錦町3-1
株式会社オーム社 オームセミナー室の地図

主催

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受講料

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