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低エネルギー逆光電子分光法による有機半導体のLUMO準位測定と有機エレクトロニクスへの応用展開
低エネルギー逆光電子分光法による有機半導体のLUMO準位測定と有機エレクトロニクスへの応用展開
東京都 開催
会場 開催
本セミナーは終了いたしました。
概要
本セミナーは、低エネルギー逆光電子分光法による有機半導体のLUMO準位測定と、有機エレクトロニクスへの応用展開について詳解致します。
開催日
- 2014年10月15日(水) 13時30分 ～ 16時30分
受講対象者
- 有機半導体・有機エレクトロニクスに関連する技術者、研究者
プログラム
- 有機半導体の電子構造の基礎
- 有機半導体デバイスと電子構造
- 有機半導体の分子軌道と電子準位
- 有機半導体の電子準位、イオン化エネルギー・電子親和力、状態密度
- 電子構造の測定法・評価法の概要上
- LUMO準位と電子親和力の測定・評価法
- 有機半導体のLUMO準位の特徴
- これまでに使われてきたLUMO準位測定・評価法の概略と問題点
- 電気化学的手法 (サイクリックボルタンメトリー)
- 光電子分光法、光吸収分光法
- 逆光電子分光法
- その他の手法
- 逆光電子分光法の特徴と問題点
- 逆光電子分光法の原理
- 逆光電子分光測定装置
- 有機半導体LUMO準位測定の実例
- 逆光電子分光による有機半導体測定の問題点
- 低エネルギー逆光電子分光の原理と性能
- 従来の逆光電子分光法の問題点をいかに解決するか?
- 原理と装置開発
- 本測定法の性能評価
- 低エネルギー逆光電子分光法の発展
- 低エネルギー逆光電子分光法による有機エレクトロニクス材料のLUMO準位と電子親和力の測定・評価の実際
- 有機薄膜太陽電池アクセプター材料の評価
- 有機EL素子材料の評価
- 従来法による測定との比較
- 低エネルギー逆光電子分光法の有機半導体基礎研究への展開
- 電子親和力の分子配向依存性 -イオン化エネルギー、電子親和力とは何か?
- 有機固体の表面準位
- 低エネルギー逆光電子分光法の今後の展望
講師
会場
主催
お支払い方法、キャンセルの可否は、必ずお申し込み前にご確認をお願いいたします。
受講料
1名様
:
46,000円 (税別) / 49,680円 (税込)
1口
:
57,000円 (税別) / 61,560円 (税込)
(3名まで受講可)
割引特典について
- 複数名 同時受講:
1口 57,000円(税別) / 61,560円(税込) (3名まで受講可能)
本セミナーは終了いたしました。
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