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抵抗率の正しい測定法

抵抗率の正しい測定法

~試料の準備、測定時のポイント、データの解釈~
東京都 開催 会場 開催

概要

本セミナーでは、各種材料の低抵抗および高抵抗領域における抵抗率測定について、抵抗と測定の原理、測定の基礎と、測定法にあたっての注意点を解説いたします。
正しい測定法を学びたい初学者はもちろん、データがばらつく、データが理論や想定と合わない、形状が複雑な材料の測定、抵抗率が不均一な材料の測定等、実際の測定場面で課題に直面している方々にもおすすめします。

開催日

  • 2013年5月22日(水) 12時30分 16時30分

プログラム

  1. 抵抗と抵抗率
  2. 低抵抗領域の測定
  3. テスターで測ると何故不安定なのか?
  4. テスターでの測定はダメなのか?
  5. 4端子法と2端子法
  6. 接触抵抗とは?
  7. 4探針法とは?
  8. 4探針法と4端子法の違い
  9. 表面抵抗率と体積抵抗率の使い分け
  10. 傷が付き易い試料の測り方
  11. 薄膜の抵抗率測定
  12. 高抵抗領域の測定
  13. 2重リング法とは?
  14. 表面抵抗率と体積抵抗率の測り方は違うのか?
  15. JIS K6911とは?
  16. ガード電極は必要か?
  17. 温度や湿度で抵抗値が変わるのか?
  18. 印加電圧や測定時間はどのように決めるのか?
  19. 高抵抗薄膜の測定
  20. 中間領域の試料は定電流印加法と定電圧印加法のどちらで測るか?
  21. 粉体の抵抗はどうやって測るか?
  22. 高温や低温下での低抵抗測定は?

講師

  • 西井 俊文
    日東精工アナリテック株式会社 営業推進部
    部長代理

会場

連合会館

5階 502

東京都 千代田区 神田駿河台三丁目2-11
連合会館の地図

主催

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お問い合わせ

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受講料

1名様
: 40,000円 (税別) / 42,000円 (税込)

割引特典について

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    • STbook会員登録を希望する: 1名 39,900円 (税込)
    • STbook会員登録を希望しない: 1名 42,000円 (税込)
本セミナーは終了いたしました。

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