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全固体電池の開発動向とオペランド計測、測定

全固体電池の開発動向とオペランド計測、測定

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概要

本セミナーでは、全固体電池の開発動向、固体電解質の合成と適用事例を解説いたします。

開催日

  • 2024年9月24日(火) 10時30分 ～ 16時15分

受講対象者

  • 全固体電池の材料研究の経緯を把握したい方
  • 新たに全固体電池の研究を始めたい方
  • 全固体電池の合成法、評価解析手法を学びたい方

修得知識

  • 全固体リチウム二次電池の基礎
  • 全固体リチウム二次電池のトレンド
  • 電子顕微鏡を用いたオペランド計測の最近の動向
  • オペランド透過型電子顕微鏡技術の基礎 (特に,電子エネルギー損失分光法)
  • 全固体Liイオン電池内部のLi濃度変化の可視化 (最新の応用例を含む)
  • その他固体電池の電子顕微鏡計測技術
  • 蓄電池を対象とする種々のX線測定技術

プログラム

第1部 硫化物系を中心とした全固体電池の研究開発動向と界面構築の考え方

(2024年9月24日 10:30〜12:00)

  1. 全固体リチウム二次電池の基礎とトレンド
    1. リチウムイオン電池の基礎
    2. 全固体リチウム二次電池の構造
    3. 全固体電池の種類と特徴
    4. 全固体電池の開発状況と最新動向
      1. 硫化物型全固体電池
      2. 酸化物型全固体電池
    5. 固体電解質の種類と考え方
    6. 硫化物系固体電解質の合成法
  2. 硫化物全固体電池における固体界面構築の考え方
    1. 電池の内部抵抗の解析 (電気化学インピーダンス法)
    2. 電極-電解質間の電極反応の高速化 (活物質のコーティング)
    3. 固体電解質の機械的特性
      1. 成形性
        • 焼結
        • ガラスの軟化融着
        • 常温加圧焼結
      2. 弾性率測定
        • 超音波パルス法
        • 圧縮試験
    4. シート型全固体電池の試作 (電極および固体電解質のシート化手法と注意点)
    • 質疑応答

第2部 オペランド電子顕微鏡計測による全固体電池反応の直接観察

(2024年9月24日 13:00〜14:30)

　全固体電池は、不燃性の固体電解質 (特に、セラミックス) を用いた電池であり、高い安全性や高エネルギー密度が期待できる蓄電デバイスとして世界中で研究開発が進んでいる。高性能な電池を開発するためには、電池内部のイオンの動きを把握し、プロセスへフィードバックさせることが重要である。
　本講座では、透過型電子顕微鏡 (特に、電子エネルギー損失分光法) を用いて、充放電中にイオンがどのように動くかを可視化した技術を中心に述べ、最新の応用例についても紹介する。

  1. オペランド電子顕微鏡計測技術
    1. オペランド電子顕微鏡計測の最近の動向
    2. 透過型電子顕微鏡内で全固体電池を動作させる技術
    3. 電子エネルギー損失分光法の基礎およびその他の計測技術
  2. オペランド電子エネルギー損失分光法による全固体電池反応の可視化
    1. 薄膜型全固体Liイオン電池のオペランド観察例
    2. バルク型全固体Liイオン電池のオペランド観察例
    3. 機械学習を用いた高速オペランド電子顕微鏡観察の応用例
  3. その他電子顕微鏡計測技術
    1. オペランド電子線ホログラフィーによる全固体電池内部の電位計測
    2. オペランド走査型電子顕微鏡による全固体電池のイオン濃度分布観察
    • 質疑応答

第3部 オペランドXRD測定による全固体LIBの反応分布解析

(2024年9月24日 14:45〜16:15)

　全固体LIBを含めた各種の蓄電池材料に対して用いられている種々のX線分析技術について、特にオペランド測定に用いられる測定技術について、包括的情報を提供する。幅広く行われているX線回折 (XRD) 、X線吸収分光法 (XAS) のほか、蓄電池内部の反応分布解析ができる共焦点XRDなど、放射光施設の高輝度なX線を利用した先端的な解析技術に関する知識についても習得できる。

  1. 蓄電池を対象とする種々のX線測定技術の紹介
    1. X線回折 (XRD)
    2. X線吸収分光 (XAS)
    3. その他の測定手法
  2. 放射光施設の紹介と放射光光源の特徴
    1. 代表的な放射光施設の紹介
    2. 光源とその特徴
    3. 光学系
  3. オペランド測定手法とその解析例の紹介
    1. オペランドXRD
    2. オペランドXAS
    3. オペランド共焦点XRD
    • 質疑応答
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講師

  • 作田 敦 氏
    大阪公立大学 大学院 工学研究科
    准教授
  • 山本 和生 氏
    一般財団法人 ファインセラミックスセンター ナノ構造研究所 電子顕微鏡計測インフォマティクスグループ
    グループ長 / 主任研究員
  • 藤波 想 氏
    京都大学 産官学連携本部
    特定准教授
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主催

株式会社 技術情報協会
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お問い合わせ

本セミナーに関するお問い合わせは tech-seminar.jpのお問い合わせからお願いいたします。
(主催者への直接のお問い合わせはご遠慮くださいませ。)

受講料

1名様
: 55,000円 (税別) / 60,500円 (税込)
複数名
: 50,000円 (税別) / 55,000円 (税込)

複数名同時受講割引について

  • 2名様以上でお申込みの場合、1名あたり 50,000円(税別) / 55,000円(税込) で受講いただけます。
    • 1名様でお申し込みの場合 : 1名で 55,000円(税別) / 60,500円(税込)
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    • 3名様でお申し込みの場合 : 3名で 150,000円(税別) / 165,000円(税込)
  • 同一法人内による複数名同時申込みのみ適用いたします。
  • 受講券、請求書は、代表者にご郵送いたします。
  • 他の割引は併用できません。

アカデミック割引

  • 1名様あたり 30,000円(税別) / 33,000円(税込)

日本国内に所在しており、以下に該当する方は、アカデミック割引が適用いただけます。

  • 学校教育法にて規定された国、地方公共団体、および学校法人格を有する大学、大学院、短期大学、附属病院、高等専門学校および各種学校の教員、生徒
  • 病院などの医療機関・医療関連機関に勤務する医療従事者
  • 文部科学省、経済産業省が設置した独立行政法人に勤務する研究者。理化学研究所、産業技術総合研究所など
  • 公設試験研究機関。地方公共団体に置かれる試験所、研究センター、技術センターなどの機関で、試験研究および企業支援に関する業務に従事する方
  • 支払名義が企業の場合は対象外とさせていただきます。
  • 企業に属し、大学、公的機関に派遣または出向されている方は対象外とさせていただきます。

ライブ配信セミナーについて

  • 本セミナーは「Zoom」を使ったライブ配信セミナーとなります。
  • お申し込み前に、 視聴環境 と テストミーティングへの参加手順 をご確認いただき、 テストミーティング にて動作確認をお願いいたします。
  • 開催日前に、接続先URL、ミーティングID​、パスワードを別途ご連絡いたします。
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  • セミナー資料は郵送にて前日までにお送りいたします。
  • 開催まで4営業日を過ぎたお申込みの場合、セミナー資料の到着が、開講日に間に合わない可能性がありますこと、ご了承下さい。
    ライブ配信の画面上でスライド資料は表示されますので、セミナー視聴には差し支えございません。
    印刷物は後日お手元に届くことになります。
  • ご自宅への書類送付を希望の方は、通信欄にご住所・宛先などをご記入ください。
  • タブレットやスマートフォンでも受講可能ですが、機能が制限される場合があります。
  • ご視聴は、お申込み者様ご自身での視聴のみに限らせていただきます。不特定多数でご覧いただくことはご遠慮下さい。
  • 講義の録音、録画などの行為や、権利者の許可なくテキスト資料、講演データの複製、転用、販売などの二次利用することを固く禁じます。
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