異物は食品、医薬品、塗膜、プラスチック成品、半導体、電子基板などいろいろな製品中で発生する。異物発生の対策には、まず異物の構造を知ることが必要であり、それが混入経路の推定に役立つだけでなく異物混入防止の重要なポイントとなる。異物分析は微小物の分析に限ったわけではないが、最近の異物は微小化の傾向にありほとんどが顕微分析で行われる。
　異物の構造同定にはFT – IR、ラマン分光法がよく使用される。本講ではまず、両分光法の基礎を概説する。また、異物分析では測定法の選択とそれに適した試料サンプリングが必要である。最近いろいろなサンプリングツールが利用できるようになった。実際にサンプリングツール見ていただき、その特性を知ることで試料調整に活かしていただきたいと思っている。異物スペクトルの解析にも言及する。

1. 異物の形態観測
   1. 形態観察とサンプリング方法
   2. どんな測定法を適用するか
2. FT – IR分光法の基礎
   1. 各種測定法とその特徴
   2. 測定法の違いとスペクトル
3. ラマン分光の基礎
   1. 各種測定法
   2. 蛍光対策
   3. 注意事項
4. サンプリングツール
   1. サンプリングツールのいろいろ
   2. サンプリングツールの使い方実演
5. スペクトル分析
   1. FT-IR、ラマン分析事例の紹介
   2. スペクトルデータベース
6. 目的とサンプル形状に適合した測定法の選択
7. トピックス
• 質疑応答