技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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本調査報告書は、携帯端末に関するパテントマップ、パテントチャートを作成し、技術開発動向、最近の注目技術など具体的なデータを提供しております。
携帯端末 技術開発実態分析調査報告書のPDF版 もご用意しております。
「携帯端末」に関する公開件数、発明者、および特許分類などに対し、時系列推移、技術分布図など様々な観点から分析したパテントマップおよび、パテントチャートを作成し、
① どの携帯端末関連企業にどのような技術の公開があるか、
② 各企業の技術開発動向はどのように推移しているか、
③ 最近注目する技術は何なのか、
④ 各企業間の連携状況はどのようになっているか
等を明確にして、今後の開発の指針決定に役立てようとするものである。
本調査報告書は、「携帯端末」に関する過去10年間 (国内公開日:1999年1月1日~2008年12月31日) に及ぶ公開特許について、「特許検索ASPサービスSRPARTNER」 ( (株) 日立情報システムズ 製) を使用し、検索、収集した。報告書作成にはパテントマップ作成支援ソフト「パテントマップEXZ」 (インパテック (株) 製) を使用した。特許情報公報の総数は59,128件である。
S1 (公報発行日) :19990101:20081231
S2 (FI) :H04M1/02C
S3 (Fターム) :5K023AA07
S4 (要約+請求の範囲) :携帯電話+携帯端末+携帯通信端末+携帯情報端末+携帯無線機+移動体端末
論理式:S1* (S2+S3+S4) = 59,128件 (出力件数)
本報告書は、次の3つの部分から構成されている。

| 開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
|---|---|---|---|
| 2026/12/3 | 生成AIを活用した発明の創出・発掘とその進め方 | オンライン | |
| 2026/12/3 | シリコンフォトニクスにおける集積光デバイスの設計・評価技術と応用展開 | オンライン | |
| 2026/12/4 | 海外文献・特許を読み解くための生成AI活用のポイント | オンライン | |
| 2026/12/4 | 開放特許を活用した新製品開発の進め方とコスト削減、ライセンス契約のポイント | オンライン | |
| 2026/12/7 | 光電融合技術の進展と次世代情報通信インフラ | オンライン | |
| 2026/12/8 | 伝熱・熱抵抗の基礎と電子機器の放熱・冷却技術 | オンライン | |
| 2026/12/8 | 先使用権の成立要件、証拠確保と活用のポイント | オンライン | |
| 2026/12/8 | 膨大情報 (SNS, IoT, AI) の高速処理 : 情報処理技術の最前線と求められる技術や部材 | オンライン | |
| 2026/12/9 | 特許調査の精度を高めるポイントとパテントクリアランス調査 | オンライン | |
| 2026/12/9 | 知財業務における生成AIの活用法と選び方、使い分けのポイント | オンライン | |
| 2026/12/9 | 光導波路の基礎と応用、光集積化技術の展望 | オンライン | |
| 2026/12/14 | IPランドスケープを活用した新規事業・R&Dテーマ探索と評価の進め方 | オンライン | |
| 2026/12/14 | 生成AIを活用した発明の創出・発掘とその進め方 | オンライン | |
| 2026/12/15 | 電子機器・部品・材料の腐食・劣化評価と防止・対策技術 | 東京都 | 会場・オンライン |
| 2026/12/15 | 海外文献・特許を読み解くための生成AI活用のポイント | オンライン | |
| 2026/12/15 | 電子機器における防水設計の実践テクニック (上級編) | オンライン | |
| 2026/12/17 | 先使用権の成立要件、証拠確保と活用のポイント | オンライン | |
| 2026/12/18 | 基礎から学ぶ化学物質法規制のポイント | オンライン | |
| 2026/12/18 | 特許調査の精度を高めるポイントとパテントクリアランス調査 | オンライン | |
| 2027/1/6 | IPランドスケープを活用した新規事業・R&Dテーマ探索と評価の進め方 | オンライン |
| 発行年月 | |
|---|---|
| 1988/11/1 | 移動通信装置の設計技術 |
| 1987/12/1 | PLL制御回路設計事例集 |
| 1987/11/1 | デジタルシグナルプロセッサの基礎と応用 |
| 1986/12/1 | 耐ノイズ機器実装設計技術 |
| 1985/10/1 | 電子部品・電子装置の環境信頼性試験 |