技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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本調査報告書は、携帯端末に関するパテントマップ、パテントチャートを作成し、技術開発動向、最近の注目技術など具体的なデータを提供しております。
携帯端末 技術開発実態分析調査報告書のPDF版 もご用意しております。
「携帯端末」に関する公開件数、発明者、および特許分類などに対し、時系列推移、技術分布図など様々な観点から分析したパテントマップおよび、パテントチャートを作成し、
① どの携帯端末関連企業にどのような技術の公開があるか、
② 各企業の技術開発動向はどのように推移しているか、
③ 最近注目する技術は何なのか、
④ 各企業間の連携状況はどのようになっているか
等を明確にして、今後の開発の指針決定に役立てようとするものである。
本調査報告書は、「携帯端末」に関する過去10年間 (国内公開日:1999年1月1日~2008年12月31日) に及ぶ公開特許について、「特許検索ASPサービスSRPARTNER」 ( (株) 日立情報システムズ 製) を使用し、検索、収集した。報告書作成にはパテントマップ作成支援ソフト「パテントマップEXZ」 (インパテック (株) 製) を使用した。特許情報公報の総数は59,128件である。
S1 (公報発行日) :19990101:20081231
S2 (FI) :H04M1/02C
S3 (Fターム) :5K023AA07
S4 (要約+請求の範囲) :携帯電話+携帯端末+携帯通信端末+携帯情報端末+携帯無線機+移動体端末
論理式:S1* (S2+S3+S4) = 59,128件 (出力件数)
本報告書は、次の3つの部分から構成されている。

| 開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
|---|---|---|---|
| 2026/10/8 | 積層セラミックコンデンサの故障メカニズム、解析事例と品質向上 | オンライン | |
| 2026/10/9 | プロンプト・AI関数・AIエージェントの3スキルで進める特許出願実務と特許データ分析 | オンライン | |
| 2026/10/9 | 電子部品の特性とノウハウ (2日間) | オンライン | |
| 2026/10/9 | 電子部品の特性とノウハウ (1) | オンライン | |
| 2026/10/9 | 光電融合・Co-Packaged Optics (CPO) 技術の基礎と最新研究動向および技術課題 | オンライン | |
| 2026/10/13 | 光電融合・Co-Packaged Optics (CPO) 技術の基礎と最新研究動向および技術課題 | オンライン | |
| 2026/10/13 | AIデータセンター向け超高速光トランシーバの最新動向 | オンライン | |
| 2026/10/14 | AIサーバー・データセンターの放熱設計のポイントと最新冷却技術 | オンライン | |
| 2026/10/14 | 生成AIを活用した発明の言語化と国内・国際特許出願の進め方 | オンライン | |
| 2026/10/14 | 共同研究/開発契約の進め方と秘密保持契約の対応ノウハウ | オンライン | |
| 2026/10/15 | ノウハウの秘匿化戦略と先使用権の立証、実践ポイント | オンライン | |
| 2026/10/15 | 光電融合技術の最新動向と実装プロセス、樹脂材料への要求特性 | オンライン | |
| 2026/10/15 | 共同研究/開発契約の進め方と秘密保持契約の対応ノウハウ | オンライン | |
| 2026/10/19 | 電子機器のノイズ・EMC対策の基礎と設計への活かし方 | オンライン | |
| 2026/10/19 | 共同研究開発における契約実務と留意点 | オンライン | |
| 2026/10/19 | 研究開発現場の失敗事例・判例から学ぶ知財・特許トラブルとリスクマネジメント | オンライン | |
| 2026/10/19 | マルチコア光ファイバとその周辺技術の最新トレンド | オンライン | |
| 2026/10/20 | 生成AIを活用した知財実務の実践講座 | オンライン | |
| 2026/10/20 | 医療機器と体外診断用医薬品業界における事業開発戦略 | オンライン | |
| 2026/10/21 | 生成AIを活用した知財実務の実践講座 | オンライン |
| 発行年月 | |
|---|---|
| 1988/11/1 | 移動通信装置の設計技術 |
| 1987/12/1 | PLL制御回路設計事例集 |
| 1987/11/1 | デジタルシグナルプロセッサの基礎と応用 |
| 1986/12/1 | 耐ノイズ機器実装設計技術 |
| 1985/10/1 | 電子部品・電子装置の環境信頼性試験 |