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FT-IR活用のための基礎とスペクトルデータのより深い測定と読み取り方

FT-IR活用のための基礎とスペクトルデータのより深い測定と読み取り方

～FT-IRや顕微 FT-IRを用いた分析のノウハウを基礎から学びたいかた必聴～
東京都 開催 会場 開催
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概要

本セミナーでは、FTIR・顕微FTIRによる材料分析・測定の基礎から、正しいスペクトルを取得するためのコツやテクニック、そのデータの読み取りの考え方および試料前処理まで、解析事例も交えながら、丁寧に分かり易く解説いたします。

開催日

  • 2016年4月26日(火) 13時00分 ～ 16時30分

受講対象者

  • FT-IR・顕微IRを用いた異物分析の担当者、技術者

修得知識

  • FT-IRの基礎
  • FT-IRの正しい測定・解析テクニック
  • FT-IRを利用した受け入れ検査や異物分析、新規材料の評価

プログラム

　FT-IRや顕微 FT-IR を用いた分析のノウハウを基礎から丁寧に説明します。
　また、前処理やきれいなスペクトルを得る測定方法、解析のコツもあわせて説明します。

  1. 赤外分光法の基礎とスペクトルの解析法
    1. 赤外分光法の基礎
    2. スペクトル解析法の基礎
    3. スペクトルの帰属の例
    4. 検索プログラムを利用した解析法
  2. FT-IR の原理
    1. FT-IR の装置の原理 ～IRスペクトルが得られるまで～
    2. 最適な測定パラメータの設定
  3. 各種測定法の原理とスペクトルの取扱 ～正しいスペクトルの取得、データ処理、解析事例～
    1. 透過測定の原理と測定テクニック
    2. ATRを中心とした反射測定の原理と測定テクニック
  4. 顕微FT-IR
    1. 顕微FT-IRの原理
    2. クオリティの高いデータ取得のためのテクニック 前処理編
    3. クオリティの高いデータ取得のためのテクニック 測定編
    4. 赤外イメージングと異物分析を中心とした測定例
    • 質疑応答・名刺交換
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講師

  • 渡邉 敬祐 氏
    日本分光 株式会社 光分析ソリューション部 ソリューション技術課
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会場

品川区立総合区民会館 きゅりあん

4F 第2特別講習室

東京都 品川区 東大井5丁目18-1
品川区立総合区民会館 きゅりあんの地図
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主催

サイエンス＆テクノロジー 株式会社
お支払い方法、キャンセルの可否は、必ずお申し込み前にご確認をお願いいたします。

お問い合わせ

本セミナーに関するお問い合わせは tech-seminar.jpのお問い合わせからお願いいたします。
(主催者への直接のお問い合わせはご遠慮くださいませ。)

受講料

1名様
: 38,000円 (税別) / 41,040円 (税込)
複数名
: 20,000円 (税別) / 21,600円 (税込)

複数名同時受講の割引特典について

  • 2名様以上でお申込みの場合、
    1名あたり 20,000円(税別) / 21,600円(税込) で受講いただけます。
    • 1名様でお申し込みの場合 : 1名で 38,000円(税別) / 41,040円(税込)
    • 2名様でお申し込みの場合 : 2名で 40,000円(税別) / 43,200円(税込)
    • 3名様でお申し込みの場合 : 3名で 60,000円(税別) / 64,800円(税込)
  • 受講者全員が会員登録をしていただいた場合に限ります。
  • 同一法人内(グループ会社でも可)による複数名同時申込みのみ適用いたします。
  • 受講券、請求書は、代表者にご郵送いたします。
  • 請求書および領収書は1名様ごとに発行可能です。
    申込みフォームの通信欄に「請求書1名ごと発行」と記入ください。
  • 他の割引は併用できません。
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