異物分析においてFT-IRは多用される分析機器である。本講演では、FT-IRの基礎的な知識を得ることによって、より効率よく異物分析ができるようになることを目的としている。具体的には、数μm～の異物を対象に、異物の収集方法やその際に確認できる情報、FT-IRの測定方法、解析方法、問題解決にむけてのアプローチなど、一連の分析手順について事例を交えながら解説する。さらに、FT-IRでできる分析とできない分析の事例をあげることで、FT-IRのデメリットについても学べるよう工夫している。

1. はじめに
   1. 大切な分析の視点とは
   2. 分析の目的は何か
   3. 分析の中のFT-IR
2. 異物の概要
   1. 異物とは何か
   2. 異物の種類
3. 異物分析の分析方法
   1. 異物分析で大切なこと
   2. 異物分析の手順
   3. 観察でわかること
   4. 異物のサンプリング方法
   5. 異物の情報収集
   6. 問題解決に向けてのアプローチ
4. FT-IRを使用した異物分析
   1. 異物分析の中のFT-IR
   2. 装置の概要
      1. FT-IRでどんな情報が得られるのか
      2. FT-IR測定での約束事
   3. FT-IRの測定方法と測定のコツ
      1. 本体測定-透過法と使用例
      2. 本体測定-反射法と使用例
      3. 本体測定-ATR法と使用例
      4. 顕微IRを用いた測定
      5. 顕微IR-イメージング法:2次元可視化のメリット/デメリット
   4. FT-IR測定のためのサンプリングと前処理
      1. ちょっと便利なグッズ
      2. 前処理
5. スペクトルの解析
   1. データベースの重要性
   2. データベースの作成
   3. よく使われるスペクトルの処理とそれを使用した解析
   4. 検量線作成およびサンプルの定量
   5. 構造解析
   6. ピークの細かな違い
      1. ピークシフト
      2. ピーク強度比
      3. ピーク幅
      4. ピーク歪み
   7. 問題解決のための解析
6. FT-IR以外の分析装置
   1. SEM-EDS
   2. 蛍光X線
   3. GC、GC-MSおよびLC
7. 異物分析の実施例
   1. FT-IRが活躍した例
   2. FT-IRではできなかった例
8. よくある質問
   1. サンプリングに関すること
   2. スペクトルに関すること
9. まとめ
• 質疑応答