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テラヘルツの基礎と応用

テラヘルツの基礎と応用

東京都 開催 会場 開催

概要

本セミナーでは、様々な分野で応用が期待されるテラヘルツについて基礎からわかりやすく解説いたします。

開催日

  • 2017年11月17日(金) 12時30分 16時30分

受講対象者

  • 赤外線、テラヘルツ波に関連する技術者、研究者
    • 医療機器
    • セキュリティ
    • 半導体検査
    • 分析機器
    • 非破壊検査装置
    • プラントなどの大型設備検査
    • 生体センシング など
  • 赤外線センサの性能評価に携わる方
  • 赤外線計測、サーモグラフィの担当者
  • 赤外線分光計測の担当者
  • 赤外線計測、テラヘルツ計測について基礎から学びたい方
  • 赤外線計測の応用を検討されている方
  • テラヘルツテクノロジーに興味を持っている方

修得知識

  • 赤外線センサので測定データの考え方
  • 赤外線センサの性能評価の方法
  • 赤外線計測の応用分野
  • テラヘルツ技術の基礎知識
  • テラヘルツセンサの性能評価の方法
  • テラヘルツセンシングが期待される分野

プログラム

 テラヘルツは,光と電波の境界の目に見えない電磁波で、金属でない多くの物質を透過し、ミリメータサイズ以下のものを分解でき、人体に安全であるとともに有機・バイオ物質を検出できるという性質があります。
 1990年代後半から、テラヘルツ時間領域分光法、テラヘルツ量子カスケードレーザーなどの光源、2次元検出器アレイなどの研究開発が進み、テラヘルツの分光・イメージング技術が急速に発展しました。
 本セミナーでは、テラヘルツ技術をさまざまな分野で利用するために必要な基礎と応用を分かりやすく説明します。

  1. テラヘルツの性質と特徴
  2. 研究開発の歴史
    • 光と電波、赤外線からテラヘルツへ
  3. 伝搬とテラヘルツ材料
    1. 透過と反射、吸収、散乱と回折および消散と大気の伝搬特性と
    2. テラヘルツ透過材料、電気光学効果材料
  4. テラヘルツの放射と光源
    1. 熱放射源とレーザー
    2. 電波放射源
  5. テラヘルツの吸収と検出器
    1. 量子型検出器
    2. 熱型検出器
    3. 電界検出器
  6. 検出器の雑音
    • ショット雑音
    • 熱雑音
    • 誘電損雑音
    • 生成・再結合雑音
    • 光子雑音
    • 温度ゆらぎによる雑音
    • f分の1雑音
  7. 検出器の性能指標と評価
    1. 検出器の性能指標
      • NEP (雑音等価電力)
      • 検出能Dおよび比検出能D*
      • 雑音等価放射照度 (NEI)
      • 雑音等価温度差 (NETD)
    2. 性能評価法
  8. センシングの方法
    1. パッシブおよびアクティブセンシング
    2. 分光法とイメージング
  9. テラヘルツ計測の応用
    1. 安全・安心、防犯のための監視・スクリーニング
    2. 半導体材料の電気性能測定
    3. パッケージ・塗装・発泡材料の非破壊検査
    4. 食製品の異物混入検出
    • 質疑応答

会場

江東区役所 商工情報センター (カメリアプラザ)

9F 研修室

東京都 江東区 亀戸2-19-1
江東区役所 商工情報センター (カメリアプラザ)の地図

主催

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お問い合わせ

本セミナーに関するお問い合わせは tech-seminar.jpのお問い合わせからお願いいたします。
(主催者への直接のお問い合わせはご遠慮くださいませ。)

受講料

1名様
: 46,278円 (税別) / 49,980円 (税込)

割引特典について

  • R&D支援センターからの案内登録をご希望の方は、割引特典を受けられます。
    • 1名でお申込みいただいた場合、1名につき 43,750円 (税別) / 47,250円 (税込)
    • 複数名で同時にお申し込みいただいた場合、1名につき 23,139円 (税別) / 24,990円 (税込)
    • 案内登録をされない方は、1名につき 46,278円 (税別) / 49,980円 (税込)
本セミナーは終了いたしました。

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