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表面分析の基礎と応用
表面分析の基礎と応用
東京都 開催
会場 開催
本セミナーは終了いたしました。
概要
本セミナーでは、表面分析について基礎から解説し、各分析装置の原理、特徴、具体的な活用事例や分析事例を交えてわかりやすく解説いたします。
開催日
- 2017年8月25日(金) 13時00分 ～ 16時00分
修得知識
- 表面分析の基礎
- SEM, EPMA, AES, XPSなどの表面分析装置に関する基礎
- 必要な時にどの装置で分析すれば適切なのかを選択できる
プログラム
表面分析手法は、今や研究開発の場だけでなく、一般の工業製品の生産性や歩留りを向上するために、広く世界中の工場でも活用されています。例えばその具体的な例としては、表面汚染・変色の防止に始まり、表面粗さ・変形・歪みの制御や、電気伝導度や腐食・防食の性能の制御など、多種多様な目的で品質保証の分野で広く利用されています。
本セミナーでは、走査型電子顕微鏡 (SEM) , 電子線マイクロアナライザー (EPMA) , オージェ電子分光装置 (AES) , X線光電子分光装置 (XPS) などの各分析装置の原理や特徴を基礎から説明し、具体的な活用事例や分析事例を使ってわかりやすく解説いたします。
- 表面分析とは
- 表面の定義
- 表面分析の重要性
- 各SEM, EPMA, AES, XPSなどの表面分析装置の分析領域とその目的
- 走査型電子顕微鏡 (SEM)
- SEMの原理と特徴
- SEMで得られる情報と分析深さ
- エネルギー分散型X線検出器 (EDS) の特徴
- SEMで得られる分析結果 (定性分析, 定量分析, 面分析など)
- 応用分析事例
- 電子線マイクロアナライザー (EPMA)
- EPMAの原理と特徴
- EPMAで得られる情報と分析深さ
- 波長分散型X線検出器 (WDS) の特徴
- EPMAで得られる分析結果 (定性分析, 定量分析, 面分析など)
- 応用分析事例
- オージェ電子分光装置 (AES)
- AESの原理と特徴
- AESで得られる情報と分析深さ
- AESで用いられる電子分光器の特徴
- AESで得られる分析結果 (定性分析, 定量分析, 面分析など)
- 応用分析事例
- X線光電子分光装置 (XPS)
- XPSの原理と特徴
- XPSで得られる情報と分析深さ
- XPSで用いられる電子分光器の特徴
- XPSで得られる分析結果 (定性分析, 定量分析, 面分析など)
- 応用分析事例
- まとめ
- 質疑応答
会場
主催
お支払い方法、キャンセルの可否は、必ずお申し込み前にご確認をお願いいたします。
受講料
1名様
:
46,278円 (税別) / 49,980円 (税込)
割引特典について
- R&D支援センターからの案内登録をご希望の方は、割引特典を受けられます。
- 1名でお申込みいただいた場合、1名につき 43,750円 (税別) / 47,250円 (税込)
- 複数名で同時にお申し込みいただいた場合、1名につき 23,139円 (税別) / 24,990円 (税込)
- 案内登録をされない方は、1名につき 46,278円 (税別) / 49,980円 (税込)
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