技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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アーカイブ配信で受講をご希望の場合、視聴期間は2025年5月23日〜6月2日を予定しております。
アーカイブ配信のお申し込みは2025年5月23日まで承ります。
本セミナーでは、精度の高いX線回折結果の取得を目的として、X線回折の原理から測定条件の最適化、回折データの前処理条件、そして各種解析方法とその結果の検討方法について解説いたします。
粉末X線回折図形には、含有物質とその含有量、格子定数、結晶子サイズや格子歪みなど、多くの結晶パラメータが含まれています。すなわち、回折図形を上手に活用 (解析) すると様々な結晶の情報を引き出すことができます。但し、解析目的に応じた測定を行わないと、回折データを上手に活用することはできません。近年のX線回折計には、多種に渡る光学系、試料ステージ、検出器を装着することができ、その組み合わせから、より質の高いX線回折図形を測定することがでます。質の高いデータは、解析を行う上で大きな助けになることがあります。
また、解析方法や手順により、解析結果より信頼性のない数値を取得してしまうこともあります。粉末X線回折図形の解析方法は多種多様であるが、解析ソフトウェア技術の進歩により、容易に数値データを取得することができます。しかし、その精度をしっかりと吟味しなければ無駄な数値となってしまいます。
できるだけ精度の高いX線回折結果の取得を目的として、本セミナーでは、X線回折の原理から測定条件の最適化、回折データの前処理条件、そして各種解析方法とその結果の検討方法について説明いたします。
日本国内に所在しており、以下に該当する方は、アカデミック割引が適用いただけます。
発行年月 | |
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2022/5/31 | 分離工学の各単位操作における理論と計算・装置設計法 |
2020/11/30 | 高分子の延伸による分子配向・結晶化メカニズムと評価方法 |
2012/11/1 | 高分子の結晶化メカニズムと解析ノウハウ |