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FT-IR測定・同定の実際とアプリケーションテクニック・コツ

現場実務で役立つ・使える

FT-IR測定・同定の実際とアプリケーションテクニック・コツ

～サンプリングから測定、スペクトル解析まで実体験できる 赤外分光法 完全マスター講座～
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概要

本セミナーでは、FT-IR (フーリエ変換赤外分光法) の原理、代表的な各種測定方法等の基礎的な知識から実務使用における測定技術や応用技術やノウハウまでを解説いたします。

開催日

  • 2021年2月3日(水) 10時30分 ～ 16時30分

受講対象者

  • FT-IRに関連する技術者
  • 社内でFT-IRを指導する方
  • FT-IRの初心者、入門者
  • FT-IRをより上手に使いこなしたい方
  • 良いスペクトルが取れずに悩んでいる方
  • スペクトルサーチが使いこなせていない方

修得知識

  • 赤外分光法の各種測定法
  • アタッチメント特徴と測定技術
  • 様々な試料・目的に合わせた測定法
  • スペクトル処理・解釈の考え方
  • 混合物解析の実際の手順
  • 赤外分光法を用いた問題解決の手順

プログラム

　赤外分光法は、その特徴からも主に有機化合物の化学構造や高次構造の解析手段として研究、開発され、今日では研究・開発だけでなく工場でのインライン評価などにも幅広く一般に使用されている。近年になって、ATR法をはじめとした様々な測定法の開発や装置の改良等によって、従来困難であったような試料も容易に測定が可能となり、今日においてはなくてはならない基本的な測定手法としてその地位を確立している。
　しかし、実際のサンプルや問題に直面した場合、どのように測定・解析を行っていけば良いかは依然重要である。しかし残念ながら、文献・教科書等では装置や測定法の原理は詳細に解説してあるものが多いが、そのアプリケーションとしての解説を十分に行っているものは少ない。
　本講座は、赤外分光法の詳細で専門的な原理ではなく、よりアプリケーション寄りの内容、実務での赤外分光法活用を中心とした。実際の分析操作やスペクトルの解釈、実際の分析において対象とすることの多い異物や混合物、様々な試料や目的への対応の方法、事例などについて、実務使用における測定技術や応用技術、ノウハウを解説する。

  1. 赤外分光法の基本原理と特徴
    1. 赤外分光が見ているもの
    2. 分光分析における吸収の定義
    3. 吸収スペクトルと吸光度スペクトル
    4. 赤外分光の波長領域
    5. 振動モード
    6. 気体と液体・固体
    7. 赤外分光法発展の歴史
    8. 赤外分光法の長所・短所
    9. 主な検出器と特徴
  2. 代表的な測定法
    1. 透過法
    2. 全反射法 (ATR)
      1. ATR法のバリエーション
      2. ATR結晶 (IRE) の特性
      3. FTIR-ATRにおける測定深さ
      4. ATR法における注意点
      5. ATR補正
      6. 異常分散によるスペクトルへの影響
      7. 様々なATRアタッチメント
      8. 毒劇物としてのATR結晶 (IRE)
    3. 反射法
    4. 拡散反射法
    5. 光音響分光法 (PAS)
    6. ガスセル
    7. 主な測定法のまとめ
    8. 顕微赤外
    9. ラマン分光法との対比
  3. 赤外スペクトル
    1. 赤外スペクトルの概要
    2. 主な吸収帯
    3. 指紋領域の利用
    4. カルボニル基の判別
    5. スペクトルサーチ
    6. スペクトルデータベース
    7. 代表的検索アルゴリズム
    8. 検索アルゴリズムの限界
    9. ヒットスコアの罠
    10. 検索結果の間違い例
    11. スペクトルサーチのコツ
    12. 差スペクトル
    13. 混合解析
    14. オープンライブラリ
    15. 系統分析
    16. 帰属の考え方
  4. 定量分析
    1. 検量線法
    2. ピーク強度比法
    3. 内標準法
    4. 誤差要因
  5. 大気成分補正
  6. 測定条件と誤差要因
  7. スペクトル処理
    1. ベースライン補正
    2. スムージング・補間
    3. ベースライン (ピーク強度)
    4. ピーク高さと面積
    5. 自動処理の注意点
  8. 混合物の解析
  9. 様々な試料
    1. バルク
    2. フィルム
    3. 紛体
    4. 液体
    5. 異物・微小部
    6. 繊維
    7. 汚染・付着物
    8. 黒色試料
  10. 高次構造
  11. 結晶解析
  12. 融解
  13. 配向
  14. 水素結合
  15. バルク (全体平均) 分析
  16. 表面分析
  17. 深さ方向分析
    1. 断面の利用
    2. 精密斜め切削法
    3. 傾斜面の例
    4. 研磨法
    5. 角度変化法
  18. 温度変化測定
  19. FTIRにおける注意点
    1. ATRにおける異常分散
    2. ATRにおける試料変形の影響
    3. ATRにおける試料の置き方の影響
    4. ATRにおける押し圧の影響
    5. KBrと試料との反応
    6. KBr錠剤法の粉砕粒度の影響
    7. 表面研磨、偏光と試料傾斜による干渉縞抑制
    8. プレスホルダーによる干渉縞抑制
  20. 事例
    1. フィルム上汚染
    2. UV表面処理による構造変化の深さ方向解析
    3. UV照射によるオレフィンの構造変化
    4. UV照射による添加剤入りPVCの構造変化
    5. ポリイミドの表面処理層の深さ方向分析
    6. Pi/Cu/Si界面の解析
    7. 時間分解測定
  21. 仮説思考による研究開発と問題解決
  22. 質疑
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講師

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主催

サイエンス＆テクノロジー 株式会社
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お問い合わせ

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受講料

1名様
: 30,400円 (税別) / 33,440円 (税込)
複数名
: 22,500円 (税別) / 24,750円 (税込)

複数名受講割引

  • 2名様以上でお申込みの場合、1名あたり 22,500円(税別) / 24,750円(税込) で受講いただけます。
    • 1名様でお申し込みの場合 : 1名で 30,400円(税別) / 33,440円(税込)
    • 2名様でお申し込みの場合 : 2名で 45,000円(税別) / 49,500円(税込)
    • 3名様でお申し込みの場合 : 3名で 67,500円(税別) / 74,250円(税込)
  • 同一法人内 (グループ会社でも可) による複数名同時申込みのみ適用いたします。
  • 受講券、請求書は、代表者にご郵送いたします。
  • 請求書および領収書は1名様ごとに発行可能です。
    申込みフォームの通信欄に「請求書1名ごと発行」とご記入ください。
  • 他の割引は併用できません。

アカデミー割引

教員、学生および医療従事者はアカデミー割引価格にて受講いただけます。

  • 1名様あたり 10,000円(税別) / 11,000円(税込)
  • 企業に属している方(出向または派遣の方も含む)は、対象外です。
  • お申込み者が大学所属名でも企業名義でお支払いの場合、対象外です。

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