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3次元点群からの特徴抽出と高能率レジストレーション

3次元点群からの特徴抽出と高能率レジストレーション

東京都 開催 会場 開催

開催日

  • 2020年3月4日(水) 10時00分 16時00分

プログラム

  1. 3次元点群の概要
    1. 点群とは
    2. 点群の特徴と情報処理
    3. 画像処理と点群情報処理
    4. 3次元センサの構造と仕組み
    5. ステレオ画像処理で学ぶ点群取得の基礎
    6. 多視点画像からの撮像位置推定と点群取得
  2. 3次元点群処理の基礎
    1. フィルタ処理とその効果
    2. レジストレーションとその効果
    3. 距離画像処理と点群処理の特徴
    4. 点群の構造化とデータモデリング
    5. 可視化と情報表現
    6. 情報点の補間と間引き
    7. 3次元モデルとコンピュータグラフィックス
    8. ソフトウェア開発環境の紹介
  3. 3次元点群からの特徴抽出とその記述法
    1. 法線推定法
    2. 表面曲率推定法
    3. 関数あてはめ法
    4. 法線差分法
    5. 法線相対勾配法
    6. コーナー検出法
    7. 固有形状抽出法
    8. 特徴記述法
  4. 3次元点群のレジストレーション
    1. 再帰的近傍点探索法
    2. 特徴点マッチング法
    3. 推定動きベクトル参照による高能率化
    4. Corase – to – Fineアプローチによる高精度化
    5. 多面体構造からの仮想特徴点抽出とその応用
    6. 進化計算による変換係数推定法
  5. 3次元点群処理の応用例
    1. 点群のクラスタリング
    2. 点群からのオブジェクト抽出と認識
    3. 3次元マップ

講師

会場

株式会社オーム社 オームセミナー室
東京都 千代田区 神田錦町3-1
株式会社オーム社 オームセミナー室の地図

主催

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受講料

1名様
: 46,000円 (税別) / 50,600円 (税込)
1口
: 57,000円 (税別) / 62,700円 (税込) (3名まで受講可)
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