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超イオン伝導体の基礎と応用

超イオン伝導体の基礎と応用

東京都 開催 会場 開催
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概要

本セミナーは、固体中の超イオン伝導性を発現させる欠陥構造と欠陥制御、結晶構造の特徴について解説いたします。
また、イオン伝導体の重要な物性であるイオン伝導度測定法、構造測定として重要性を増している中性子回折測定についても説明いたします。

開催日

  • 2018年11月29日(木) 13時30分 ～ 16時30分

修得知識

  • 固体中のイオン伝導の基礎 (欠陥構造と拡散)
  • 代表的なイオン伝導体の構造
  • イオン伝導体の物性測定法 (イオン・電子伝導度)
  • イオン伝導体の構造測定法 (中性子回折)

プログラム

　液体に匹敵する高いイオン伝導度を有する固体は超イオン伝導体と呼ばれており、これらの物質は燃料電池やリチウムイオン二次電池などの電気化学デバイスへの応用が期待されています。本セミナーは、固体中の超イオン伝導性を発現させる欠陥構造と欠陥制御、結晶構造の特徴について解説します。また、イオン伝導体の重要な物性であるイオン伝導度測定法、構造測定として重要性を増している中性子回折測定についても説明します。

  1. 序論:超イオン伝導体の発見と応用
    • ハロゲン化銀の銀イオン伝導
    • ハロゲン化銀の結晶構造
    • 電池と電解質
  2. イオン伝導体の構造と物性
    1. イオン伝導体の欠陥構造と欠陥制御
      • 内因性欠陥と外因性欠陥
      • 欠陥の原子価制御
      • 固体の不定比性
    2. 固体におけるイオン拡散
      • 拡散の現象論
      • 拡散の原子論
    3. 代表的なイオン伝導体の結晶構造
  3. イオン伝導体の物性、構造測定法
    1. イオン伝導度測定
      • イオン伝導度測定における電極
      • 交流インピーダンス測定
      • 電子・イオン混合伝導体に対する測定
    2. 中性子回折測定
      • X線回折と中性子回折
      • 中性子回折の特徴
      • 中性子回折測定法
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講師

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会場

ちよだプラットフォームスクウェア

5F 会議室 503

東京都 千代田区 神田錦町3-21
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主催

株式会社 シーエムシー・リサーチ
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お問い合わせ

本セミナーに関するお問い合わせは tech-seminar.jpのお問い合わせからお願いいたします。
(主催者への直接のお問い合わせはご遠慮くださいませ。)

受講料

1名様
: 44,444円 (税別) / 48,000円 (税込)
複数名
: 19,907円 (税別) / 21,500円 (税込) (案内をご希望の場合に限ります)

案内割引・複数名同時申込割引について

シーエムシーリサーチからの案内をご希望の方は、割引特典を受けられます。
また、2名以上同時申込で全員案内登録をしていただいた場合、2名様目以降は半額 (税込 21,500円)となります。

  • Eメール案内を希望する方
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    • 3名様でお申し込みの場合 : 3名で 79,630円(税別) / 86,000円(税込)
  • Eメール案内を希望しない方
    • 1名様でお申し込みの場合 : 1名で 44,444円(税別) / 48,000円(税込)
    • 2名様でお申し込みの場合 : 2名で 88,889円(税別) / 96,000円(税込)
    • 3名様でお申し込みの場合 : 3名で 133,333円(税別) / 144,000円(税込)

アカデミック割引

  • 1名様あたり 23,148円(税別) / 25,000円(税込)

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